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... 多功能 轮廓 测量仪可消除死角， 测量光泽面 消除非接触的“无法 测量”操作简单的 轮廓 测量仪。侧面和背面，都可用电动旋转单元 测量。 最快1 秒对整个面进行高精度3D 测量 消除死角，光泽面也可 测量 一台应对图纸指示 3D ...
... 大视野 测量形状参数和三维地形图 TopMap Pro.Surf是用于大面积表面特征描述的光学三维表面 轮廓仪--快速、高效。 Pro.Surf 是高端的非接触式 轮廓仪，用于在生产过程中进行可靠的质量控制，无论是在线、在线或在实验室。 Pro.Surf 可 测量平面度、台阶高度或平行度等，具有 44x33 毫米的大视野 (FoV)，可提高测试效率。 白光干涉仪可扫描大面积的高度数据，从而一次性捕捉所有表面细节。 ...
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... 概述
基于 Micro.View 平台的紧凑型光学 3D 表面
轮廓仪，用于非接触的
粗糙度与表面形貌
测量。作为从触针系统入门到光学面测技术的替代方案设计，适用于从哑光到高反射的零件，提供面域和
轮廓
粗糙度评估。
亮点
- 符合 ISO 的粗糙度评估：轮廓
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... 以亚纳米分辨率分析形状和 粗糙度、纹理、划痕和缺陷、微结构、微机电系统或半导体 Micro.View+ 是一款具有最高重复性和 测量精度的表面 轮廓仪。 用于纳米 粗糙度和微结构的模块化光学 轮廓仪 TopMap Micro.View+是Polytec公司的新一代光学表面 测量技术。它采用模块化设计可根据您的表面检测任务进行各种配置无论是精密制造部件还是微系统的纹理、微结构、形状或 粗糙度。Micro.View+ ...
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... 用于微观结构和 粗糙度的紧凑型光学 轮廓仪 TopMap Micro.View®是TopMap系列白光干涉仪中的紧凑型表面 轮廓仪，可对微观结构、纹理、光洁度和面积 粗糙度参数（Sa、Sz...）进行可重复的高分辨率表面检测。 以亚纳米分辨率快速扫描表面！ 。通过集成CST连续扫描技术，Z轴100毫米的行程提供了完整的100毫米 测量范围，垂直分辨率在纳米范围内。这款光学 轮廓仪的特点是设计紧凑，集成了电子元件，使用方便，例如，通过自动寻焦功能，在生产环境和测试实验室中进行快速有效的 测量。 + ...
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... 表面细节、形状参数和 粗糙度的综合光学三维 测量 TopMap Pro.Surf+为所有表面表征要求提供定制解决方案，评估形状参数，如平面度、台阶高度、平行度和表面 粗糙度。其空间分辨率和远心光学系统可到达深层区域，加上无与伦比的 测量速度，显示了这种生产计量工具的高性能。 TopMap Pro.Surf+ 使用诸如平面度、台阶高度、平行度和 粗糙度等参数为所有表面特性要求提供定制解决方案。总之，空间分辨率、远心镜头和速度确实令人印象深刻。 白光干涉仪与色彩共焦技术的组合意味着不会忽略任何细节 ...
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