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温度: 450 °C - 1,800 °C
频谱响应: 0.88 µm
响应速度: 50, 2 ms
... 模拟 I/O 标度、平滑滤波器、发射率/透过率、反射环境辐射补偿、报警限、线性化、LED 状态、模拟功能、单位 °C/°F；摄像头型号：TBC、白平衡
Keller Pyrometer Systems
温度: 400 °C - 2,000 °C
响应速度: 100 ms
...
模拟输出标定 (0/4–20 mA)；平滑滤波；存储工作模式与保持时间；发射率；透射率；报警触点的限值与工作模式；ATD 参数；电流与
温度模拟；
温度单位 °C/°F。带摄像头型号还支持 TBC、白平衡、测量点编号等。
功能说明
过温信号（内部
温度 > 75 °C 时）；服务功能（模拟测量值或电流信号）；ATD（自动
温度检测）功能，适用于间歇过程。
包装清单
Pyrometer ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 500 °C - 2,500 °C
... CellaCombustion PX 18 用于测量发电厂、燃烧过程和废物焚化炉燃烧室内的热燃烧气体的 温度。 凭借其可聚焦光学和透镜瞄准或摄像机，CellacomBustion PX 18 可以精确对齐。 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 500 °C - 2,500 °C
... CellaTemp® PX 30是一款数字式测温仪，用于测量500至2500℃的 温度。由于波长较短，高温计在测量金属时具有非常高的测量精度。为了方便和精确地瞄准测量对象，可使用透镜瞄准器或激光引导灯。诸如发射率、测量范围或平滑常数等参数可通过后部按钮进行设置。更改后的参数显示在LED显示屏上。在正常操作中，会显示当前的测量 温度。 专题报道: 现代 IO-Link 接口 可聚焦的可互换光学器件，用于精确调整测量距离 宽带防反射精密光学器件 LED ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 600 °C - 3,000 °C
... CellaTemp® PX 35 是一款用于测量 600 至 3000 °C 温度的数字高温计，短波长窄带传感器在光谱区域工作，在这种区域中，视线路不会阻塞灰尘或蒸汽，也不会波动的发射率不会干扰测量结果。 CellaTemp® PX 35 特别适用于检测金属（钨、钼等）和硅晶圆的 温度。 CellaTemp® PX 35 采用集成 LED 显示屏，可轻松从远处查看 温度读数。 使用 PC USB 连接设置发射率和平滑时间常数等参数，或执行诊断。 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 500 °C - 3,000 °C
频谱响应: 0.95, 1.05 µm
响应速度: 10, 20 ms
...
Keller Pyrometer Systems
温度: 500 °C - 1,400 °C
... CellaTemp® PA 50 是一款数字双色高温计，用于测量 500 至 1400 °C 的 温度，由于商测量方法，该设备对视野中的灰尘和蒸汽、保护窗被污染或改变表面作为单色高温计造成的干扰不太敏感。 为了方便精确地瞄准测量对象，可提供透镜瞄准、激光聚光灯或摄像机。 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 300 °C - 1,000 °C
... CellaTemp® PX 60 是一款数字双色高温计，用于测量 300~1000 °C 的 温度，由于商测量方法，该设备对视野中的灰尘和蒸汽、保护窗被污染或作为单色高温计改变表面造成的干扰不太敏感。 为了方便精确地瞄准测量对象，可提供透镜瞄准、激光聚光灯或摄像机。 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 750 °C - 3,000 °C
频谱响应: 0.95, 1.05 µm
响应速度: 10 ms
... 1 Vpp，75 Ω；瞄准选项：镜筒内目视、激光指示、摄像头
Keller Pyrometer Systems
温度: 1,000 °C
精确度: 0.35 %
分辨率: 0.2 °C
... CellaCrystal PX 44是为硅和碳化硅晶体生产中的光学 温度测量而开发的。校准特别适合于生长过程。由于混合信号评估在整个测量范围内具有< 0.1 K的恒定高分辨率，以及恒定光传感器技术带来的非常高的长期稳定性，该设备满足了对必要的测量精度的高要求。 专题报道: PX 44 AF 4 用于硅晶体生产的特殊校准 PX 44 AF 7 用于碳化硅生产的特殊校准 高计量分辨率的混合信号评估 高长期由于自热极小，因此具有稳定性 可聚焦光学器件，可精确调整测量距离 标准：IO- ...
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