Hitachi/日立探测器

... TXRF) - 同步辐射应用 - 过程控制 Vortex 在接近室温的条件下运行，由热电冷却器 (TEC) 进行冷却，可根据需要频繁循环，而不会降低探测器的性能。冷却时间通常不超过 2 分钟。 Vortex X 射线光谱系统包括一个探测器单元和控制箱，其中包括探测器电源、热电冷却器和可选的数字脉冲处理器，并配有我们的 PI-SPEC 软件。 整套探测器还包括电荷敏感前置放大器和温度稳定系统，从而消除了对环境温度变化的担忧。 ...

... 射线荧光 (TXRF) - 同步辐射应用 Vortex-EX 在接近室温的条件下运行，由热电冷却器 (TEC) 进行冷却，可根据需要频繁循环，而不会降低探测器的性能。冷却时间通常不超过 2 分钟。 Vortex-EX X 射线光谱系统包括一个探测器单元和控制箱，其中包括探测器电源、TEC 和带 PI-SPEC 软件的可选数字脉冲处理器。 整套探测器还包括电荷敏感前置放大器和温度稳定系统，从而消除了对环境温度变化的担忧。 ...

... (TXRF) 同步辐射应用 Vortex-90EX 在接近室温的条件下工作，由热电冷却器 (TEC) 进行冷却，可根据需要频繁循环，而不会降低探测器的性能。冷却时间通常不超过 2 分钟。 Vortex-90EX X 射线光谱系统包括探测器装置和控制箱，其中包括探测器电源、热电冷却器和带 PI-SPEC 软件的可选数字脉冲处理器 (DPP)。 整套探测器还包括电荷敏感前置放大器和温度稳定系统，从而消除了对环境温度变化的担忧。 ...

... PIXE) - 快速 X 射线绘图 Vortex-EM 在接近室温的条件下运行，由热电冷却器 (TEC) 进行冷却，可以根据需要频繁循环，而不会降低探测器的性能。冷却时间通常不超过 2 分钟。 Vortex-EM X 射线光谱分析系统包括一个探测器单元和控制箱，其中包括探测器电源、热电冷却器和带 PI-SPEC 软件的可选数字脉冲处理器。 整套探测器还包括电荷敏感前置放大器和温度稳定系统，从而消除了对环境温度变化的担忧。 ...

... 射线发射 (PIXE) - 同步辐射应用 Vortex-EZ 在接近室温的条件下运行，由热电冷却器 (TEC) 进行冷却，可以根据需要频繁循环，而不会降低探测器的性能。冷却时间通常不超过 2 分钟。 Vortex-EZ X 射线光谱系统包括一个探测器单元和控制箱，其中包括探测器电源、热电冷却器和带 PI-SPEC 软件的可选数字脉冲处理器。 整套探测器还包括电荷敏感前置放大器和温度稳定系统，从而消除了对环境温度变化的担忧。 ...

... SEM 应用 Vortex-ME3 在接近室温的条件下工作，由热电冷却器 (TEC) 进行冷却，可以根据需要频繁循环，而不会降低探测器的性能。冷却时间通常不超过 3 分钟。 Vortex-ME3 X 射线光谱系统包括一个探测器单元和控制箱，其中包括探测器、热电冷却器和可选数字脉冲处理器的电源。 整个探测器还包括电荷敏感前置放大器和温度稳定系统，从而消除了对环境温度变化的担忧。 ...

... Vortex-ME4 是一种四元件硅漂移探测器（SDD）X 射线探测系统，总有效面积为 120 平方毫米至 200 平方毫米。 Vortex-ME4 具有卓越的能量分辨率和高通量性能，可提高 X 射线光谱系统的总体分析性能。 X 射线荧光 (XRF) 光谱分析，包括块状荧光和微观荧光 同步辐射应用 过程控制 快速 X 射线制图 Vortex-ME4 在接近室温的条件下工作，由热电冷却器 (TEC) ...

... Vortex-ME7 是一种七元件硅漂移探测器 (SDD) X 射线探测系统，总有效面积为 210 平方毫米至 350 平方毫米，探头直径仅为 1.5 英寸（38.1 毫米）。 Vortex-ME7 具有卓越的能量分辨率和高通量性能，可提高 X 射线光谱系统的总体分析性能。 X 射线荧光 (XRF) 光谱，包括批量荧光和微量荧光 同步辐射应用 过程控制 快速 X 射线制图 Vortex-ME7 ...