Vortex-60EX 硅漂移 X 射线探测器的有效面积在 30 平方毫米到 80 平方毫米之间。Vortex-60EX 探测器采用最先进的 CMOS 生产技术,由高纯度硅制成。它们具有出色的能量分辨率(典型值为 Mn Kα 时 <130 eV FWHM)和高计数率能力。在 0.1 µs 的极短峰值时间内,输出计数率可达 900 kcps。这些探测器的独特之处在于,它们能够在处理高计数率的同时,能量分辨率损失极小,峰值随计数率的偏移也极小。
- X 射线荧光 (XRF) 光谱,包括块状荧光和微型荧光
- 微型 XRF(近期可提供更多尺寸)
- X 射线衍射 (XRD)
- 微粒诱导 X 射线发射 (PIXE)
- 全反射 X 射线荧光 (TXRF)
- 同步辐射应用
Vortex-EX 在接近室温的条件下运行,由热电冷却器 (TEC) 进行冷却,可根据需要频繁循环,而不会降低探测器的性能。冷却时间通常不超过 2 分钟。
Vortex-EX X 射线光谱系统包括一个探测器单元和控制箱,其中包括探测器电源、TEC 和带 PI-SPEC 软件的可选数字脉冲处理器。
整套探测器还包括电荷敏感前置放大器和温度稳定系统,从而消除了对环境温度变化的担忧。
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