CMOS探测器 Vortex®-90EX

X 射线数字硅漂移

Vortex-EX 硅漂移 X 射线探测器的有效面积在 30 平方毫米到 80 平方毫米之间。Vortex-90EX 探测器采用最先进的 CMOS 生产技术，由高纯度硅制成。它们具有出色的能量分辨率（典型值为 Mn Kα 时 <130 eV FWHM）和高计数率能力。在 0.1 µs 的极短峰值时间内，输出计数率可达 900 kcps。这些探测器的独特之处在于，它们能够在处理高计数率的同时，能量分辨率损失极小，峰值随计数率的偏移也极小。 X 射线荧光 (XRF) 光谱，包括块状荧光和微型荧光 微型 XRF（近期可提供更多尺寸） X 射线衍射 (XRD) 微粒诱导 X 射线发射 (PIXE) 全反射 X 射线荧光 (TXRF) 同步辐射应用 Vortex-90EX 在接近室温的条件下工作，由热电冷却器 (TEC) 进行冷却，可根据需要频繁循环，而不会降低探测器的性能。冷却时间通常不超过 2 分钟。 Vortex-90EX X 射线光谱系统包括探测器装置和控制箱，其中包括探测器电源、热电冷却器和带 PI-SPEC 软件的可选数字脉冲处理器 (DPP)。 整套探测器还包括电荷敏感前置放大器和温度稳定系统，从而消除了对环境温度变化的担忧。