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... 1.表面 轮廓评价。可以评价半径、角度、距离、坐标、圆、圆形截面，并确定各点、各相交点、坐标轴、直线、垂直线、圆、圆形截面，分析 轮廓的直线度、圆度。 更多的功能。 (1)建立回归线和圆 (2)建立点、相交点、自由点、中心点、最高点和最低点 (3)建立坐标系 (4)计算半径、距离、角度、坐标和线性偏差 (5)比较实际值和名义值 (6) 测量程序自动运行 2.SJ5701可以评估表面粗糙度。Ra, ...
Chotest Technology Inc.
... 纳米三维光学表面 轮廓仪 SuperView W1 产品型号： SuperView W1/W1-Pro 产品名称：纳米 3D 光学表面 轮廓仪 标准视场角(0.98*0.98)mm 最大视场角(6x6)毫米 测试对象的反射率：0.5 % ~100 粗糙度 RMS 重复性：0.005 纳米 扫描范围：≤10 毫米 分辨率 0.1nm 平台 测量精度 0.3 % 平台 测量重复性 ...
Chotest Technology Inc.
... SJ5780-200 双向扫描 轮廓 测量仪是一款大范围、高精度的主动扫描式综合 轮廓 测量仪。该仪器 X 轴、Z 轴采用独立运动系统，利用先进的双轴联动运动控制算法，可实现 X、Z 双轴联动扫描， 测量测针在工件表面做仿形扫描（主动扫描），既保持了恒定的 测量力，又保证了大量陡坡通过的能力，工件找平操作简单，同时避免了崩针、挂销等问题。它可以在很宽的满量程范围内连续扫描，并具有数百毫米的连续爬坡能力，非常适合 测量各种陡坡，大型工件无需翻转或倾斜调整即可轻松 测量。 ...
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... 触针纳米
轮廓仪 NS200 是用于表面粗糙度、显微
轮廓、微纳米台阶高度和薄膜厚度的接触式
测量仪器。其采用亚埃级位移传感器、超低噪声信号采集、精细运动控制及先进校准算法，实现极小接触力，并适用于不同表面反射、材料与硬度等级——适合半导体、LED、太阳能、MEMS、触摸屏、汽车及医疗设备检测。
应用
- 半导体
- 沉积薄膜的台阶高度
- 薄膜光刻胶的台阶高度
- 刻蚀速率测量
- 化学机械抛光（腐蚀、点蚀、弯曲
Chotest Technology Inc.
测量范围: 0 mm
... 是一种超精密接触式 测量仪器，用于 测量表面粗糙度和微观 轮廓，如微纳阶梯高度、薄膜厚度等。NS200 采用了分辨率达亚埃级的位移传感器、超低噪声信号采集、超精细运动控制和校准算法技术，性能卓越。其接触力极小，对 测量表面反射特性、材料类型和材料硬度没有特殊要求，因此广泛应用于半导体和化合物半导体、高亮度 LED、太阳能、MEMS 微机电系统、触摸屏、汽车和医疗设备等行业的微观表面 测量。 应用领域 半导体-大型基板-玻璃基板和柔性组件上的显示薄膜 半导体 沉积薄膜的阶梯高度 薄膜电阻的阶梯高度 蚀刻速率 测量 化学机械抛光 ...
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... 双面扫描 专用于螺纹工件 特点 1.双面 轮廓扫描功能 使用 T 形测针扫描物体表面，获得物体 轮廓，然后软件可根据 轮廓计算二维尺寸和 GD & T。 2.螺纹扫描功能 可扫描普通螺纹环规/塞规、锥螺纹环规/塞规、普通环规/塞规、梯形螺纹、锯齿螺纹、多头螺纹工件、导螺杆等。然后，软件可以分析其综合参数，如内外直径、 轮廓参数等。 ...
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... SJ5720-OPT 系列在一次扫描后即可 测量表面粗糙度和 轮廓。此外，该系列还配有专门的软件模块，用于 测量和分析大型非球面表面，因此是光学镜片行业理想的 测量解决方案。 它还可用于大型曲面的 轮廓和粗糙度 测量，如轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片等。因此，它被广泛应用于精密加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。 特点 1.一次扫描后同时评估 轮廓和粗糙度参数 2.高精度、高稳定性和高重复性 3.非球面光学软件模块 4.智能管理和先进的软件分析系统 5.扫描过程中的智能保护系统 6.灵活的手动控制 ...
Chotest Technology Inc.
... 产品型号： SuperView W1-Ultra 产品名称： 纳米 3D 光学表面 轮廓仪 标准视场：(0.98*0.98)mm 最大视场角(6x6)毫米 测试对象的反射率：0.5 % ~100 粗糙度 RMS 重复性：0.005 纳米 扫描范围：≤10 毫米 分辨率 0.1nm 平台 测量精度 0.3 % 平台 测量重复性 0.08% 1σ SuperView W1-Ultra 光学 3D 表面 轮廓仪是对各种精密零件进行亚纳米级 测量的理想仪器。它基于白光干涉技术原理，结合精密的 ...
Chotest Technology Inc.
... 产品型号： SuperView W1-Lite 产品名称： 纳米 3D 光学表面 轮廓仪 标准视场：(0.98*0.98)mm 最大视场角(6x6)mm 测试对象的反射率：0.05 % ~100 粗糙度 RMS 重复性：0.01 纳米 扫描范围：≤10 毫米 分辨率 0.1nm 平台 测量精度 0.3 % 平台 测量重复性 0.08% 1σ ...
Chotest Technology Inc.