空间成像显微镜

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光电数码显微镜
光电数码显微镜
DVM6

... 数字显微镜用于故障分析、质量保证和控制、研究和开发或取证。出色的光学技术、直观的操作和智能软件使用户能够获得可靠的结果。 大的变焦范围(16:1)允许在不同的放大倍数之间快速变化。物体领域是可变的,从0.18到35毫米,无需重新对焦。倾斜支架(-/+60°,使用适配器可达到90°)和旋转样品台(-/+180°)只需一只手就可以简单操作。高分辨率的1000万像素摄像头,可快速显示实时图像(每秒30幅)。用于二维和三维测量的智能软件,可重复的结果和报告的创建只需点击几下即可。 ...

透射电子显微镜
透射电子显微镜
SU9000II

倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.4, 1.2 nm

超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000 专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件,高分辨成像所设计。 • 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.2 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) • 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 • 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术,高效,灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
扫描电子场发射显微镜
扫描电子场发射显微镜
SU5000

空间分辨率: 1.2 nm

操作高效便捷 创新的“EM Wizard”界面更加直观,仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平 高性能电子光学系统 • 二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)* • 高灵敏度: 高效PD-BSD, 超强的低加速电压性能,低至100 V成像 • 大束流(>200 nA): 便于高效微区分析 性能优异 • 压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配备高灵敏度低真空探测器(UVD)* • ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
电子扫描显微镜
电子扫描显微镜
SU series

倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 15, 4, 3 nm

集优异性能、操作简便性、多样化功能于一身 日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性,结合众多的自动化功能,可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察。 ①SU3900标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察 ■样品台可搭载超大/超重样品 • 通过更换样品提示,可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 • 选配样品交换仓,可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品,大大提高了工作效率 • 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度* • ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
SEM显微镜
SEM显微镜
Phenom Pure G6

倍率: 160 unit - 175,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 15 nm

... 桌面 SEM 经济、易用,具有可靠的自动化功能。 Thermo Scientific Phenom Pure 台式扫描电子显微镜(SEM)是从光学显微镜过渡到电子显微镜的理想工具。它是高分辨率成像的经济型解决方案,可提供同类产品中最佳的成像效果。 Phenom Pure 台式扫描电镜采用长寿命、高亮度的 CeB6 光源,可提供高质量的图像,并具有市场上最快的加载和成像时间。非常可靠的自动对焦和自动光源对准功能使其成为市场上最方便用户使用的系统。 永不丢失的导航 通过独特的永不丢失导航功能,用户可以随时了解样品的位置。光学和电子光学图像的概览可随时提供清晰的参考点。通过集成的电动平台,您可以快速浏览样品。 使用简便 用户只需经过 ...

SEM显微镜
SEM显微镜
Phenom ParticleX TC

倍率: 160 unit - 200,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 10 nm

... 用多功能台式扫描电镜进行部件清洁度分析。 用于部件清洁度分析的台式扫描电镜 Thermo Scientific Phenom ParticleX TC台式扫描电镜是一款多用途的台式扫描电镜,能在微观层面上实现技术清洁。 材料表征 作为高质量内部分析的多功能解决方案,Phenom ParticleX Desktop SEM使您有能力对材料进行快速表征、验证和分类,用快速、准确和可信的数据支持您的生产。该系统操作简单,学习迅速,为更多的用户打开了粒子和材料分析的大门。 主要特点 技术洁净度 随着(汽车)行业内对超出光镜范围的较小颗粒的分析需求不断增加,Phenom ...

AFM显微镜
AFM显微镜
Nanite

... 表面形态是许多高科技表面的重要特性,其特征可小至几纳米,表面粗糙度低于一纳米。Nanite 是对各种形状和尺寸的工件进行表面分析的首选工具。它可以进行纳米级精确测量,而且本身非常小巧,可以集成到几乎任何可以想象到的环境中。 纳米级定量表面分析 从纳米技术到数据存储和精密光学,各行各业都离不开精确的纳米级表面分析。Nanite 是揭示复杂纳米级表面细节(包括对各种应用至关重要的亚纳米粗糙度)的重要仪器。 样品限制 - 无 质量和流程控制通常需要对无法分割成较小部分的较大部件或组件进行分析。无论是处理较大的样品还是复杂的曲线,Nanite ...

AFM显微镜
AFM显微镜
CoreAFM

... CoreAFM 在设计上将原子力显微镜的所有基本要素都整合到了一个易于使用的集成装置中:一个现代化的挠性导向扫描仪、一个 XYZ 样品平台、一个用于观察样品的摄像头、一个主动振动台和一个气流屏蔽。专门设计的 24 位控制器可确保对扫描过程进行精确、可靠的控制,并便于数据采集和分析。CoreAFM 系统具备使用原子力显微镜探索纳米世界所需的一切;只需连接控制器,插入电源和 USB,即可开始工作。 无缝扩展功能 CoreAFM 是一款用途广泛、功能强大的仪器,可以处理空气和液体环境中的各种应用。无论您需要执行基本测量还是高级测量,CoreAFM ...

原子力显微镜
原子力显微镜
LensAFM

... Nanosurf LensAFM 是一种原子力显微镜,可用于光学显微镜和轮廓仪分辨率达到极限的地方。它像普通物镜一样安装,从而扩展了这些仪器的分辨率和测量能力。LensAFM 不仅能提供三维表面形貌信息,还可用于分析测量样品的各种物理性质。 无缝集成 在越来越多的情况下,研究人员希望将光学和原子力显微镜技术结合起来。光学显微镜的易用性、筛选能力和最低的样品制备要求几乎是无与伦比的。然而,当 100 倍物镜的分辨率不足以检查超出仪器分辨率的微小特征时,LensAFM ...

光学显微镜
光学显微镜
Eclipse LV100ND

重量: 9.5 kg
长度: 657 mm
宽度: 251 mm

采用尼康CFI60-2光学系统设计,成像清晰;可搭配数码相机拍照;模块化设计,方便应对各种功能扩展。 尼康ECLIPSE LV100NDA和LV100ND 同时带有反射和透射照明的显微镜,用于工业材料和零部件的检查,以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)镜检,以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital ...

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Nikon Metrology
电子扫描显微镜
电子扫描显微镜
JSM-IT800 series

倍率: 10 unit - 5,480,000 unit
空间分辨率: 0.7 nm - 3 nm

... JSM-IT800 集成了我们的 "In-lens Schottky Plus 场发射电子枪"(用于从高分辨率成像到快速元素测绘)、创新的电子光学控制系统 "Neo Engine "以及无缝图形用户界面系统 "SEM Center"(用于快速元素测绘)和完全嵌入式 JEOL 能量色散 X 射线光谱仪 (EDS),作为一个通用平台。 JSM-IT800 允许以模块形式更换扫描电镜的物镜,提供不同版本以满足不同用户的要求。JSM-IT800 共有五种不同物镜的版本:混合透镜版本(HL),是一种通用的 ...

分析显微镜
分析显微镜
ZEISS Smartproof 5

... 集成的宽视场共聚焦显微镜蔡司 Smartproof 5 是您在质量保证和质量控制方面进行表面分析的系统。 在 QA/QC 部门、生产环境和研发实验室中每天都会出现的各种工业应用中,例如粗糙度和地形表征。 -高分辨率和高速之间的完美平衡 -根据国际标准进行数据分析和报告 -易于操作的系统与工作流程程序 -可提供检测作业和面向工作流程的图形用户界面 -用户独立的数据采集作为基础获得精确和可重复的结果 -完全集成的系统:光学、电子和相机都封闭在显微镜中 ...

SEM显微镜
SEM显微镜

... 在敏捷的环境中采用Microhone®数控工具和磨料系统,还可以更好地衡量质量,并有机会测试流程是否能够满足客户对成品部件的期望。 PSS-磨料和工具部先进技术中心为制造商提供测试、文件和满足工作规范所需的统计数据。测试的最终产品是一系列利用 "六西格玛 "方法的正式报告,这些报告记录了客户可以达到的那种测量结果以及如何达到这种结果的蓝图。 PAT Incometer | CNC Honeywell | CNC Tooling PAT Incometer可以显示孔的圆度和直线度(圆柱度),精确到2.5微米或100万分之一英寸。 表面轮廓仪|数控工具 表面轮廓仪在微米级进行测量,并提供部件表面的文件,以揭示不规则的情况。 扫描电子显微镜|SEM|Microhone|CNC工具 扫描电子显微镜(SEM)用于提供精确的精加工地形图,揭示孔内的划痕。伴随着这些图片的统计读数决定了当前的工艺是否达到或超过客户的要求。 ...

光学显微镜
光学显微镜
CM EXPLORER

灵活的全方位测量解决方案 MarSurf CM explorer 有坚固的结构且对环境波动不敏感,所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 典型测量任务 • 粗糙度测量符合 • ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 • 表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学) • 轮廓和形状 (2D, 3D) • 孔,颗粒分析 • 缺陷检测 • ... 最高数据质量 我们最重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录,可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。 准确,可重复的测量 您的测量数据将可靠地记录、可以复制,并确保原始数据和轮廓精度有最高的质量。 可测的工件范围广泛 测量不受材料影响,不管几何形状和表面特性是反射性、吸收性、不透明还是透明,都能进行测量。 直观的操作 简单的用户引导界面,所有重要测量参数都有自动模式,包括对已知表面使用测量方案。

光学显微镜
光学显微镜
MarSurf 3D WI 100

MarSurf WI 100 是一台强大的表面分析仪,用于表面的三维测量和分析 - 非接触,与材料无关,而且速度快. 高性能实验室和 QA 系统 高端 MarSurf WI 100 仪器具有 xyz 方向的扩展工作区,特别适合大样本量:只需按下侧面调整,即可移动额外的手动 Z 典型测量任务 • 粗糙度测量符合 • ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 • 表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学) • 轮廓和形状 ...

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