{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... 使用多个成像解决方案研究不同的样本，每一个解决方案专门用于执行特定的缺陷分析和研发任务，这种方法可能会很复杂。 DVM6数码显微镜是一款多样化的解决方案，可帮助您在研究样本时获得深入的认识，由于操作方便，您可以专注于自己的工作，还能通过可重现的成像条件提高结果的可靠性。 ...
倍率: 160 unit - 175,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 15 nm
重量: 50 kg
... 自动向您的桌面提供可靠一致的结果 Thermo Scientific Phenom Pure、Pro 和 ProX G6 台式扫描电镜是经济、易用的解决方案，可为您自动完成大部分工作。每种型号都以提高生产率为宗旨，采用高亮度六硼化铈（CeB6）光源，可提供出色的图像质量和长期可靠性。 这些扫描电镜能更快地提供可靠、一致的结果。即使是新手也能在几分钟内获得高分辨率图像，从而帮助您和您的团队提高工作效率。 Phenom Pure G6 台式扫描电镜：最基本、最经济的选择，适合教育用途和基础研发。 Phenom ...
倍率: 160 unit - 200,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 10 nm
重量: 75 kg
... 在工业环境中保持清洁说起来容易做起来难，尤其是在汽车等要求苛刻的制造环境中。与传统的光学显微镜相比，我们的 Thermo Scientific Phenom ParticleX TC 台式扫描电镜不仅能让您在微观尺度上进行更详细的成分分析，还能让您可靠地检测和分析其他系统经常忽略的半透明颗粒（如玻璃）。 但真正使这一紧凑型系统与众不同的是其集成的 Thermo Scientific Perception 自动化软件，该软件可自动分析和识别二氧化硅或刚玉等硬质颗粒，这些颗粒会增加齿轮箱等产品的磨损率。然后，Perception ...
倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.4, 1.2 nm
... 超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000 专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 • 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.2 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) • 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 • 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 15, 4, 3 nm
... 集优异性能、操作简便性、多样化功能于一身 日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察。 ①SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察 ■样品台可搭载超大/超重样品 • 通过更换样品提示，可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 • 选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率 • 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度* • ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
倍率: 6 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 4, 15 nm
... “先进的SEM更为紧凑” 宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计，仍具备4.0 nm的图像分辨率。 全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。 FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。 • 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... JSM-IT810 系列 FE-SEM 集多功能性和高空间分辨率于一身。 内置的无编码自动化成像和 EDS 分析功能可简化高效的工作流程。 新功能可确保为所有 SEM 用户提供高质量的数据和更好的用户体验。 这些功能包括 SEM 自动调整软件包、梯形校正功能（适用于 EBSD 测量）以及用于观察表面形貌的实时 3D 表面重建。 有了 JSM-IT810 系列，操作 FE 扫描电镜变得前所未有的简单。 只需设置分析条件和选择要测量的区域，即可自动进行 SEM 观察和 EDS 分析。 SEM 自动调整包（可选）：该功能使用专用样品来执行放大率校准、光束对准和 ...
Jeol
重量: 9.5 kg
长度: 657 mm
宽度: 251 mm
... 采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机拍照；模块化设计，方便应对各种功能扩展。 尼康ECLIPSE LV100NDA和LV100ND 同时带有反射和透射照明的显微镜，用于工业材料和零部件的检查，以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 多种镜检方式 反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉； 透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。 多种配件 有多种配件可供用户选择。 载物台、物镜、物镜转换器、目镜、目镜筒、数码相机、滤光片和偏光片等。 ...
空间分辨率: 0.01 nm
... 模块化大面积光学显微镜 UP-5000 6 合 1 光学轮廓测量成像分析。 干涉仪 + 共焦 + 光谱膜厚 + 暗场 + 可变焦距 + AFM + 拉曼 多功能精确计量 光学轮廓仪 UP-5000 的技术、性能、分辨率和多功能性独树一帜。UP-5000 配备了快速扫描、多种成像技术和高分辨率，为大型样品表面成像提供了最佳解决方案。 高速摄像头 业界领先的 200 FPS 相机。亚纳米级快速精确测量。 最高 Z 分辨率 先进的最新一代编码器可提供最佳 Z 分辨率，与扫描距离或使用的放大倍率无关。 模块化多功能平台 300 ...
RTEC Instruments
... Nanosurf LensAFM 是一种原子力显微镜，可用于光学显微镜和轮廓仪分辨率达到极限的地方。它像普通物镜一样安装，从而扩展了这些仪器的分辨率和测量能力。LensAFM 不仅能提供三维表面形貌信息，还可用于分析测量样品的各种物理性质。 无缝集成 在越来越多的情况下，研究人员希望将光学和原子力显微镜技术结合起来。光学显微镜的易用性、筛选能力和最低的样品制备要求几乎是无与伦比的。然而，当 100 倍物镜的分辨率不足以检查超出仪器分辨率的微小特征时，LensAFM 便发挥了作用。其超小型的设计和巧妙的安装机制意味着您只需旋转光学显微镜或轮廓仪上的转塔即可进行扫描。 利用原子力显微镜增强光学显微镜，获得先进的洞察力 由于光学显微镜的分辨率受到光波长的限制，因此光学系统所能达到的分辨率存在一定的障碍。在越来越多的应用中，这就需要将光学显微镜和原子力显微镜结合起来。此外，原子力显微镜还能解决透明样品或难以用光学方法评估的样品的表征问题。但人们感兴趣的不仅仅是样品的粗糙形貌：原子力显微镜还能获得其他材料特性的知识、 ...
... 在敏捷的环境中采用Microhone®数控工具和磨料系统，还可以更好地衡量质量，并有机会测试流程是否能够满足客户对成品部件的期望。 PSS-磨料和工具部先进技术中心为制造商提供测试、文件和满足工作规范所需的统计数据。测试的最终产品是一系列利用 "六西格玛 "方法的正式报告，这些报告记录了客户可以达到的那种测量结果以及如何达到这种结果的蓝图。 PAT Incometer | CNC Honeywell | CNC Tooling PAT Incometer可以显示孔的圆度和直线度（圆柱度），精确到2.5微米或100万分之一英寸。 表面轮廓仪|数控工具 表面轮廓仪在微米级进行测量，并提供部件表面的文件，以揭示不规则的情况。 扫描电子显微镜|SEM|Microhone|CNC工具 扫描电子显微镜(SEM)用于提供精确的精加工地形图，揭示孔内的划痕。伴随着这些图片的统计读数决定了当前的工艺是否达到或超过客户的要求。 ...
... 灵活的全方位测量解决方案 MarSurf CM explorer 有坚固的结构且对环境波动不敏感，所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 典型测量任务 • 粗糙度测量符合 • ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 • 表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学） • 轮廓和形状 (2D, 3D) • 孔，颗粒分析 • 缺陷检测 • ... 最高数据质量 我们最重要的标准之一，即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录，可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。 准确，可重复的测量 您的测量数据将可靠地记录、可以复制，并确保原始数据和轮廓精度有最高的质量。 可测的工件范围广泛 测量不受材料影响，不管几何形状和表面特性是反射性、吸收性、不透明还是透明，都能进行测量。 直观的操作 简单的用户引导界面，所有重要测量参数都有自动模式，包括对已知表面使用测量方案。 ...