... 非接触式厚度测量，用于连续工业用途。 大衣师在线 减少您的工艺设置时间。 节省材料。 连续记录。 涂装师在线 精确的涂层厚度测量，适用于连续工业用途。 坚固、紧凑、无风扇的测量光学系统 即使在炎热的生产环境中，也是可靠的 针对机器人装配进行了优化 易于集成到涂层系统中 技术数据 固化前的粉末涂料 - 1 - 2000 µm 测量时间 - 0.5s 测量区域 - 可自由扩展 每次测量的像素 - 382 ...
coatmaster AG
... 涂料和涂料厚度测量设备/电缆探针型 涂料和涂料厚度测量设备 为什么需要测量涂层厚度？ * 它使您能够以标准和持续相同的涂料或涂料质量对产品进行涂层 * 它可以更轻松地跟踪涂层的时间。 * 它节省油漆，经济。 本设备用于测量磁性产品（铁、钢）和非磁性产品（铝、铜、青铜等）上的涂料、金属涂层、搪瓷、聚四氟乙烯等应用的干膜厚度。 * 易于使用 * 高精 度 * 可靠测量 * 具有固定和移动探头的替代品 * IP 65 ...
MEP TEKNIK
产品简介：本系统采用两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度
... C-Swan ε-SINT是一种为测量厚度而设计的反射仪。 该测量仪的功能基于电容技术，它发现其主要应用于气泡或双气泡工厂，安装方式是直接在气泡上测量。 主要特点 适用于吹膜装置中气泡上的厚度测量 接触式或非接触式测量仪都可使用 跟踪臂可跟随气泡摆动 类别:传感器。 描述 SINT安装在一个特殊的反转式圆形扫描仪上，能够测量整个圆周上的气泡。 一个可伸缩的机械臂支撑着电容式探头，它被控制在气泡的波动范围内，以保持气泡的最佳附着力。 反向扫描器的直径范围很广，适合于所有类型的吹塑薄膜的安装。 ...
Electronic SYSTEMS
... 西门子采用气动系统自动驱动，对不同长度的条带进行操作位置上的仪表滑动和仪表运行监控。 金刚石触头的设计永久接触测量带材，确保它们不会损害材料的外观，并且使用寿命长。 可连续控制带上触点的气动推力。 该连续测量仪是作为绝对测量装置而开发的，无需对测量带材的标称厚度进行机械调整，其绝对测量能力也允许在生产过程中用于其他（例如非接触式）仪表的精密校准。 控制单元使得： 数字厚度显示 模拟显示单元显示与设定标称厚度 设置的偏差，并监测 2 下限和 2 上限 数字校准的仪表 扩展模块连接 ...
UVB TECHNIK s.r.o.
... 什么是SFM 它是为那些想看清全局的专业人士准备的，而不仅仅是用卡尺和光学比较仪进行局部测量。 Scan Fit and Measure是用于离线测量和检测型材几何形状的2D系统。它被用作质量控制工具，使各种类型的生产设施通过降低成本和尽量减少产品偏差而受益。平板扫描仪技术适用于测量铝、塑料、橡胶、硅和医疗管挤压的型材。 二维测量系统易于设置和使用，根据丰富的客户预定的几何尺寸和公差，提供即时的PASS/FAIL评估。它根据尺寸、位置、壁厚和GD&T（几何尺寸和公差）的精确测量，提供扫描图像与CAD模型的视觉对比。 300mm ...
... 涂层厚度测量系统 CoatMaster 采用高级热光学方法操作 CoatMaster 首先加热涂层层，然后记录由此产生的表面温度冷却过程。 冷却过程取决于涂层的厚度和热特性。 CoatMaster 的算法分析表面的动态冷却过程，并返回涂层厚度和其他特性。 一切都发生完全无损的，没有任何直接接触的测试表面。 优点 在涂装生产线和实验室的涂层过程中自动 测量在 Ø2-50 mm 的测量点上 5 到 50 cm 之间的非接触 式测量复杂形状的工件和难以接近的点，如： -边缘 -内侧 ...
... 面对半导体产业链上游的原材料生产企业，自主研发的光谱共聚焦测量系统用于检测半导体原片和外延片的尺寸和平整度。 产品优势。 应用范围广 用于各种材料和抛光条件的4-8英寸原片、基片和外延片的检测 测量精度高 厚度范围。0-1mm 测量精度：± 1 μ M 重复精度：0.2 μ m 测量时间短 测量时间。30s/PCS(根据客户的检测轨迹) ...
Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C12562 是一款紧凑、节省空间的非接触式薄膜膜厚测量系统，可根据需要轻松安装在设备中。在半导体行业，因为硅穿孔技术的流行，硅厚度的测量至关重要；在薄膜生产行业，粘合层薄膜越来越薄，以满足产品规格。因此，这些行业现在需要更高的厚度测量精度，测量范围从 1 μm 到 300 μm。C12562 允许在 500 nm 至 300 μm 的宽厚度范围内进行精确测量，包括薄膜涂层和薄膜基板厚度以及总厚度。C12562 还提供高达 ...
HAMAMATSU/滨松公司
Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10178 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。通过光谱干涉法以高灵敏度和高精度快速测量薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪 PMA 作为探测器，可以测量量子产率、反射、透射/吸收和各种其他点，同时测量各种滤光片和涂层膜的厚度等。 特点 • 高速和高精度（测量薄膜厚度范围（玻璃）：150 nm～50 μm） • 实时测量 • 精确测量起伏不定的薄膜 • 分析光学常数（n、k） • 提供外部控制 • ...
HAMAMATSU/滨松公司
Multipoint NanoGauge 膜厚测量系统 C11295 是一种利用光谱干涉法的薄膜膜厚测量系统。作为半导体制造过程的一部分，它旨在测量薄膜厚度，以及用于对安装在半导体制造设备上的 APC 和薄膜进行质量控制。允许实时进行多通道测量，可在薄膜表面同时进行多通道测量和多点测量。同时，它还可以测量反射率（透射率）、物体色及其随时间的变化。 特点 • 可同时执行多达 15 个点的膜厚测定 • 无参考操作 • 通过校正光强度波动实现稳定的长期测量 • ...
HAMAMATSU/滨松公司
... 最好的自动厚度控制解决方案 专为航空航天领域设计，Accuthick使加工部件成为可能，在低重量和该领域必要的结构强度之间实现最佳折衷。 ...
... 我们提供全面的非接触式测量和控制仪器，用于测量直径、椭圆度、壁厚（单层和多层）、同心度、偏心度、非圆度、长度等尺寸参数，以及测量膨胀、电容、介电强度（火花测试）、表面故障（结块、颈部）等物理或电气参数。 ...
... 雷尼可测厚仪越来越多地应用于铝冷轧机、铝热轧机和铝箔测厚系统。在钢铁工业中，薄板加工线的应用更为普遍。 技术信息 材料 - 铝 铝 - 铝 - 钢 应用 - 铝 轧箔机 - 冷轧 - 生产线 X 射线源 TS40-SL - TS40-C - TS60-C 运行参数 12.8 kV /0.6 mA - 40 kV /0.3 mA - 60 kV /0.5 mA 测量范围 0.002 - 0,2 mm - 0.1 - 8,0 mm - 0.1 - 4,0 ...
... 通用双金属板监视器BDK 双片金属监测器和厚度测量装置可监测金属加工设备（如压力机）中黑色金属（Fe）或有色金属（NE）金属片的自动脱垛和分离，其自动送料系统包括脱垛机、机器人、送料机等。通过检测双板或厚度测量，可以可靠地检测到两个或多个板块粘在一起的情况，并在工具或机器本身损坏之前停止加工。在通用的BDK系统中，特别是用户友好的BDK Compact或性价比极高的BDK Uno和Duo传感器（不需要评估装置），您一定能找到最佳解决方案。 说明 用于黑色金属和有色金属板材的双重金属安全检测的通用装置（单面接触和非接触测量以及双面非接触测量）。一个系统由一个评估装置（BDK）和最多两个传感器组成。附加的传感器可以通过T型耦合器和/或板厚传感器开关连接。可根据不同的材料和厚度，对所需的金属板厚度传感器进行最多256个内存位置的简单而广泛的编程。具有与系统控制和不同的标准现场总线的接口，用于程序参数的向下和上传。坚固且经过现场验证的版本在汽车工业中得到了广泛的应用。 ...
... 涂层厚度测量和质量控制 面板测量表提供了快速确定差分蚀刻工艺后的蚀刻分布或铜表面的电镀堆积。在输入参数后，测量由一个电阻式传感器完全自动进行。 随后，测量点由电脑进行评估，并转换为三维图，包括统计工具。 精确和可重复：全自动测量避免了人工操作和操作错误 快速：3.5分钟内完成100个测量点 灵活：适应不同的面板格式 对蚀刻和电镀过程进行质量控制 过程中的漂移很容易发现和纠正 通过早期检测减少产量损失 尺寸。1200 x 1120 x 1210 mm (L ...
... 用于非接触式扫描和测量由PBL和ABL箔制成的层压管的几何参数 关于几何测量系统 该系统设计用于对PBL和ABL箔制成的层压管进行非接触式扫描和几何参数测量。 特点 - 测量直径。13到50mm - 直径测量精度：±10 µm FDRF092的应用 - 大规模生产。 规格 测量的直径 13毫米至50毫米 直径测量精度 ±10 µm 箔片厚度范围 0.05mm - 0.5mm 箔和焊缝厚度测量精度 ±5 µm 管子长度测量精度 ±0.1 µm 与PC的接口 以太网 电源供应 220V ...
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