X射线检测系统 GO-SCAN C-VIEW

自动用于探测腐蚀便携式

Go-Scan C-view 是一款轻便坚固的实时 X 射线成像系统，专为手持式检测设计，适用于包括绝缘层下腐蚀（CUI）检测在内的多种检测任务。 该系统配备了高速高分辨率的 CMOS 成像器，以及专为便携式现场作业设计的电池供电型 70kV X 射线管。视频成像系统可实时捕获图像并将其显示在手持显示屏上。 探测器技术 - - - CMOS 像素间距 - µm - 99 有效面积 - mm / in - 102 x 153 / 4.0 x 6.0 有效分辨率 - pxl - 1032 x 1548 视频帧率 - fps - 最高 30 通信方式 - - - 无线或有线 可调节长度 - mm / in - 300 至 650 / 12 至 26 能量范围 - kV - 40 至 ~ 70 X射线最大输出功率 - W - 12 电源 - - - 得伟（Dewalt）电池 电池续航时间 - h - ~2（使用5 Ah电池时） 重量 - kg / lbs - < 6.5 / 14.3