热量循环测试系统 SC-588-CD-F

功能安全老化性能

SANWOOD eMMC 存储器老化测试系统 SANWOOD eMMC 存储器老化测试系统将可控的腔室温度与可编程的读、写和擦除序列相结合。该系统可在热应力测试期间保持 eMMC 器件处于活动状态，并能并行测试多个器件，适用于生产筛选、耐久性测试和数据保留评估。 主要特点 在高密度测试板上对 eMMC 器件进行并行测试 独立可编程的 VCC 和 VCCQ 电源，用于每个插槽的电压裕度测试 可配置的读取、写入和擦除模式，用于在老化测试期间对嵌入式闪存控制器进行测试 插槽级监控，有助于在并行测试中识别故障设备 型号与规格 腔室温度控制范围 — −70°C 至 150°C SC-588-CD-F — 588 L 单腔室 SC-588-CD-F 内部尺寸（宽 × 高 × 深）— 800 × 1,050 × 700 mm SC-588-CD-F 外形尺寸（宽 × 高 × 深）—— 1,890 × 1,925 × 1,520 毫米 LS407H — 双腔室配置 LS407H 外形尺寸（宽 × 高 × 深）— 4,000 × 2,120 × 1,520 毫米 定制服务 腔体内部尺寸和测试架配置可根据您的测试板尺寸、所需的板间距以及目标插槽数量进行定制。 应用与测试参考 专为汽车电子、工业控制器、网络设备和物联网设备中使用的嵌入式存储器设计。 测试方案可参考 JEDEC JESD84-B51 标准进行 eMMC 5.1 接口测试，并在适用情况下参考 JESD22-A117 或 AEC-Q100-005 标准进行耐久性及数据保留评估。 如需配置方案，请提供您的 eMMC 封装类型、测试板图纸、目标插槽数量及温度曲线。 产品页面 — https://www.sanwood.us/products/190.html 电子邮件 — [email protected]