光学检查机 TWE Tester

工业用于电子工业自动化

产品名称 TWE Tester（JPT）

产品概述 JPT TWE Tester 为模组测试设备，针对激光模组及高精度自动光学检测系统设计，覆盖从研发验证到量产质量控制的检测需求。

类别 Intelligent Equipments / Module Tester

应用

• 激光模组的测试与特性评估
• 高精度自动化光学检测
• 研发验证及生产线质量控制

主要特性

• 基于Shack–Hartmann传感器的波前测量
• 高相位分辨率（<4 nm RMS）与绝对精度（约10 nm RMS）
• 支持宽波段测试（400–1100 nm）
• 模块化紧凑设计，快速更换Holder以适配不同工件
• 非接触高速采集，重复性高，支持实时处理
• 多波段切换与集成软件的定制报告输出

技术规格

• 波长范围：400-1100 nm
• 测量孔径：5.02 mm × 3.75 mm
• 相位空间分辨率：27.6 μm – 77.28 μm（视扩束镜而定）
• 相位分辨率：<4 nm RMS
• 绝对精度：10 nm RMS
• 采集频率：60 fps
• 实时处理频率：10 fps（全分辨率）
• 接口：千兆以太网
• 局部/部件重量：约400 g
• 整机重量：1000 kg
• 上/下料方式：手动上下料；手动滑台与快速更换Holder系统
• 电源：AC 220 V，50 Hz；功率：1.5 KW；额定电流：6.8 A
• 气源要求：φ10；0.5–0.7 MPa
• 外形尺寸：910 mm × 12500 mm × 2040 mm

应用场景

• 消费电子光学件的成像质量与像差评估
• 平面与透镜类光学元件的生产测试与质量管控
• 多波段光学特性验证与定制报告输出

参考

• 品牌：JPT
• 产品：TWE Tester
• 产品系列：Module Tester
• 来源页面： https://en.jptoe.com/products/intelligent-equipments/module-tester/twe-tester