涂层测厚仪 FT160 series

电子精准

FT160 配备了聚毛细管 X 射线聚焦光学镜组和硅漂移探测器，可实现电子零件纳米级涂层厚度测量的高精度和高产能。 聚毛细管 X 射线聚焦光学系统 通过向约 30 μmφ 区域照射高亮度初级 X 射线，实现高精度测量。 作为探测系统的硅漂移探测器（SDD） 高计数率硅漂移探测器实现了高精度测量。 自动测量辅助功能 精确的多点自动测量功能有助于提高测量效率。 简单的界面和软件帮助功能使操作更简便 通过使用类似于注册应用程序的配方，可轻松进行日常例行测量。 注重安全的仪器设计 采用封闭式外壳，大大降低了 X 射线泄漏的风险。 宽门设计提高了样品的可视性和仪器的可操作性。