实验室测量系统 MARVELOC CURTAIN

表面重量厚度毫米波

用于不同目的的干净离线测量 除了一系列在线解决方案外，Hammer-IMS 还提供厚度和基重测量系统，供实验室使用。 通常情况下，实验室系统由一个固定的测量头组成，可选配备一个进料器和/或扫描器。 内置的 M-Ray 测量技术是非放射性和非核性的，因此不适用于您的实验室环境的安全预防措施或法律限制。 在实验室环境中进行深入测量，通常用于以下目的：生产工艺优化；在开发新材料（如无纺布、塑料或涂料）时......；对使用过的样品进行调查，从而得出关于耐久性、耐磨性和材料稳定性的结论。 现在简要讨论这些问题。