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长度: 30 cm
宽度: 27.5 cm
高度: 10 cm
... ELV、REACH、TSCA 合规检测。
应用
- 电气/电子材料
- RoHS 与卤素筛查
- 半导体、光盘、液晶、太阳能电池的薄膜分析
- 汽车与机械
- ELV 危险元素筛查
- 零部件的成分分析、镀层厚度测量、化学转化涂膜质量/膜量测定
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Shimadzu France
... 概述
AXIS Supra+ 是一款成像型 X 射线光电子能
谱仪（XPS），可提供材料表面最上层约 10 nm 的元素及化学态定量信息。在日本亦称为 Kratos Ultra 2。AXIS Supra+ 将高性能分光与并行成像能力与先进自动化相结合，适用于金属、
半导体和绝缘体的科研及常规表面分析。
主要特性
- 灵敏度：在分光和 XPS 成像模式下具备优异灵敏度，适用于表面与痕量分析。
- 易用性：ESCApe
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