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温度: 400 °C - 2,000 °C
响应速度: 100 ms
... 产品概述
CellaCombustion PX 17在对CO2敏感的特定波长处进行
温度测量，高温含碳气体在该波长具有较高的光学密度和良好的辐射特性。本产品用于燃气锅炉、 小型燃烧装置及类似工业燃烧过程的烟气
温度测量。
主要特性
- 测量范围：400 至 2,000 °C
- 用于配置与数据交换的 IO-Link
Keller Pyrometer Systems
温度: 500 °C - 2,500 °C
... CellaCombustion PX 18 用于测量发电厂、燃烧过程和废物焚化炉燃烧室内的热燃烧气体的 温度。 凭借其可聚焦光学和透镜瞄准或摄像机，CellacomBustion PX 18 可以精确对齐。 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 500 °C - 2,500 °C
... CellaTemp® PX 30是一款数字式测温仪，用于测量500至2500℃的 温度。由于波长较短，高温计在测量金属时具有非常高的测量精度。为了方便和精确地瞄准测量对象，可使用透镜瞄准器或激光引导灯。诸如发射率、测量范围或平滑常数等参数可通过后部按钮进行设置。更改后的参数显示在LED显示屏上。在正常操作中，会显示当前的测量 温度。 专题报道: 现代 IO- Link ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 600 °C - 3,000 °C
... CellaTemp® PX 35 是一款用于测量 600 至 3000 °C 温度的数字高温计，短波长窄带传感器在光谱区域工作，在这种区域中，视线路不会阻塞灰尘或蒸汽，也不会波动的发射率不会干扰测量结果。 CellaTemp® PX 35 特别适用于检测金属（钨、钼等）和硅晶圆的 温度。 CellaTemp® PX 35 采用集成 LED 显示屏，可轻松从远处查看 温度读数。 使用 PC USB 连接设置发射率和平滑时间常数等参数，或执行诊断。 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 500 °C - 3,000 °C
频谱响应: 0.95, 1.05 µm
响应速度: 10, 20 ms
...
- 测量范围：500 至 3 000 °C
- IO-Link 接口
- 可调焦的可互换镜头以适应测量距离
- 宽带防反射精密光学元件
- 远距离可读的 LED 显示
- 可通过内置按键调整所有参数
- 诊断用测试电流输出
- 1 路模拟输出和 2 路开关输出
- 可自由配置的信号源/测量通道
- 用于自动温度检测的
Keller Pyrometer Systems
温度: 500 °C - 1,400 °C
... CellaTemp® PA 50 是一款数字双色高温计，用于测量 500 至 1400 °C 的 温度，由于商测量方法，该设备对视野中的灰尘和蒸汽、保护窗被污染或改变表面作为单色高温计造成的干扰不太敏感。 为了方便精确地瞄准测量对象，可提供透镜瞄准、激光聚光灯或摄像机。 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 300 °C - 1,000 °C
... CellaTemp® PX 60 是一款数字双色高温计，用于测量 300~1000 °C 的 温度，由于商测量方法，该设备对视野中的灰尘和蒸汽、保护窗被污染或作为单色高温计改变表面造成的干扰不太敏感。 为了方便精确地瞄准测量对象，可提供透镜瞄准、激光聚光灯或摄像机。 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 500 °C - 2,500 °C
响应速度: 60 ms
... 活力指示器；维护参数；恢复出厂设置；按键锁定；显示
温度或 "run"；
温度单位 °C/°F；
温度模拟。
功能
过温报警（内部
温度 >75 °C）；通过按键或测试输入的测试功能；维护功能（测量值模拟）；诊断功能（极性反接、过载、供电异常）；电源、模拟输出及开关输出的反接保护。
包装清单
红外测温仪 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 750 °C - 3,000 °C
频谱响应: 0.95, 1.05 µm
响应速度: 10 ms
... AF 7）优化的校准版本
版本 / 选型：
- CellaCrystal PA 44 AF 4
- CellaCrystal
Keller Pyrometer Systems
温度: 1,000 °C
精确度: 0.35 %
分辨率: 0.2 °C
... 是为硅和碳化硅晶体生产中的光学 温度测量而开发的。校准特别适合于生长过程。由于混合信号评估在整个测量范围内具有< 0.1 K的恒定高分辨率，以及恒定光传感器技术带来的非常高的长期稳定性，该设备满足了对必要的测量精度的高要求。 专题报道: PX 44 AF 4 用于硅晶体生产的特殊校准 PX 44 AF 7 用于碳化硅生产的特殊校准 高计量分辨率的混合信号评估 高长期由于自热极小，因此具有稳定性 可聚焦光学器件，可精确调整测量距离 标准： IO- Link ...
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