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温度: 450 °C - 1,800 °C
频谱响应: 0.88 µm
响应速度: 50, 2 ms
... 产品概述：
CellaWafer PA 38 是一款用于硅片和
金属的非接触数字测温仪，测量范围为 450–1800 °C。其非常短波长且窄带的光谱响应使其非常适合硅片加工（如 RTP）以及钨、钼等
金属的测量。传感器设计降低了对被测体发射率变化的敏感性，从而在生产环境中提供更稳定的测量结果。
主要特点：
- 测量范围 450 至 1800 °C
- 可调焦可更换光学件，便于精确设置测量距离
- 宽带抗反射精密光学件
Keller Pyrometer Systems
温度: 500 °C - 1,400 °C
... CellaTemp® PA 50 是一款数字双色高温计，用于测量 500 至 1400 °C 的 温度，由于商测量方法，该设备对视野中的灰尘和蒸汽、保护窗被污染或改变表面作为单色高温计造成的干扰不太敏感。 为了方便精确地瞄准测量对象，可提供透镜瞄准、激光聚光灯或摄像机。 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 300 °C - 1,000 °C
... CellaTemp® PX 60 是一款数字双色高温计，用于测量 300~1000 °C 的 温度，由于商测量方法，该设备对视野中的灰尘和蒸汽、保护窗被污染或作为单色高温计改变表面造成的干扰不太敏感。 为了方便精确地瞄准测量对象，可提供透镜瞄准、激光聚光灯或摄像机。 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 1,400 °C
... CellaCast PX 80是专门为测量高炉和冲天炉铸造槽中的液体 金属 温度而开发的。此外，高温计还用于将 金属从熔化炉或保温炉转移到运输或浇注钢包时。 专题报道: 现代 IO-Link 接口 用于熔化炉、保温炉、冲天炉以及高炉中 温度测量的无磨损、免维护测量系统 用于过滤炉渣 温度的 ATD 功能和无氧化物 金属表面 商 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 1,400 °C
... CellaCast PX 83是专门为测量自动铸造机上的液体 金属 温度而开发的，用于塞子和钢包铸造。在自动浇注机上进行测量时，由于浇注流的位置会因钢包的出口或倾斜角度的不同而发生变化，因此情况会变得复杂。CellaCast PX 83的特别之处在于其矩形的测量区域。只要浇注的水流在测量范围内，就可以确定一个可靠的测量值。 专题报道: 现代 IO-Link 接口 耐磨、免维护的测量系统，用于测量自动铸造机上浇注喷嘴的 温度 具有矩形测量场的光学器件，即使在位置不同的情况下也能进行可靠的测量浇注射流波动 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 750 °C - 2,400 °C
频谱响应: 0.95 µm - 1.05 µm
响应速度: 10 ms
... 产品概述
移动式放射
温度计 CellaCast PT 180 专为液体
金属的非接触
温度测量以及高炉、冲天炉和自动铸造机铸流通道中熔体
温度的连续监测而设计。其高分辨率光学系统形成较小的测量视场，使得在最长约30 m的距离上仍能获得可靠测量值。
主要特点
- 从安全距离对浇注流进行非接触、无磨损的温度测量
- 测量范围
Keller Pyrometer Systems
温度: 650 °C - 1,700 °C
... 描述
CellaCast PT 180 便携式测温仪专为液体
金属的移动
温度测量而开发。用于连续监测高炉、杯形炉或自动铸造机的铸流通道中的熔体
温度。由于工厂布局等原因，测量常常需要在较远距离进行。CellaCast PT 180 的特点是高分辨率镜头，从而具有较小的测量视场，使其即使在约 30 m 的距离也能实现可靠测量。
主要特点
- 对浇注流进行非接触、无磨损的温度测量（安全距离）
- 测量范围：750
Keller Pyrometer Systems
温度: 250 °C - 2,000 °C
频谱响应: 1.1 µm - 1.7 µm
响应速度: 2, 50 ms
... 1 K
Keller Pyrometer Systems
温度: 75 °C - 650 °C
... CellaPort PT 128配备了高强度的光学器件和一个特殊的传感器，可以在低温下对 金属进行可靠的测量。 专题报道: 用于精确调整测量距离的可聚焦光学器件 宽带防反射精密光学器件 特别适合 金属测量 LED 显示屏 标准：USB 接口 ...
Keller Pyrometer Systems
温度: 150 °C - 800 °C
频谱响应: 1.8 µm - 2.2 µm
响应速度: 2 ms - 75 ms
... ，设计用于低发射率材料（尤其是
铝和裸
金属）在150–1200 °C范围内的
温度测量（视版本分段）。专用阻隔滤光片降低了对白天光照和反射辐射的敏感性，可在
金属加工以及二极管、Nd:YAG、CO2激光加热的工艺中实现可靠测量。
主要特性：
- 测量范围150–1200 °C（视版本分段）
- 阻隔滤光片可减少日光及反射辐射的影响
- 可聚焦精密镜头，宽带防反射涂层
- 适用于低温下的铝和裸金属测量
- 4位红色
Keller Pyrometer Systems