半导体温度计

温度: -40 °C - 975 °C

温度计 CT 热量由 Micro-Epsilon 制造，是一种非接触式红外温度传感器，非常适合用于各种应用，包括粘土、炉子、塑料和纺织品的加工。 该装置能够测量温度范围从-40° C 到 + 975° C。 温度计 CT 热能处理高达 250° C 的温度，无需冷却。

温度: 50 °C - 3,500 °C

... 适用于大容量半导体应用的紧凑型单通道光纤温度高温计 Sokidenko OR400T 在紧凑型模块化平台中提供精确的非接触式温度和发射率测量。 • 基于材料类型和所需温度范围可配置的波长 • 远程透镜光学传感器或蓝宝石光管用于原位测量 • 模拟和数字通信，采用闭环控制的可选现场总线协议 概述 Sekidenko OR400T 是一款单通信通道非接触光纤温度高温计，测量物体发出的红外能量，并将其转换为可用的温度数据（°F 或 °C）。 Sekidenko OR400T ...

温度: 50 °C - 1,300 °C

... 具有可选/固定发射率的单通道温度测量能力 Sokidenko OR400M 提供了对需要较长波长的半导体应用至关重要的精确温度测量。 • 基于材料类型和所需温度范围的可配置波长 • 集成光学传感器 • 模拟和数字通信，可选的闭环控制现场总线协议 概述 A dvanced Energy 的 OR400M 光学高温计扩展了 Sekidenko 的灵活性产品系列在中红外波长范围内，从 3.3 微米到 5.2 微米。 OR400M 为薄膜太阳能、玻璃和先进半导体工艺提供单通道温度测量功能。 ...

温度: 50 °C - 3,500 °C

... 具有可配置波长范围和固定发射率校正功能的多通道非接触光纤温度高温计 Setkidenko OR4000T 非常适合在最严格控制的应用中测量温度，这些应用需要均匀、可重复的温度才能取得成功。 • 根据材料类型和所需温度范围可配置波长 • 使用远程透镜光学传感器或蓝宝石光管进行现场测量的多通道测量能力 • 模拟和数字通信，采用可选的现场总线协议进行闭环控制概 述 Sekidenko OR4000T 是一种多通道、非接触式光纤温度高温计，用于测量物体发射的红外能量，并将其转换为可用的温度数据（°F ...

温度: -20 °C - 150 °C
精确度: 1 %
频谱响应: 8 µm - 14 µm

optris CSmicro LT HS测温仪在测量0.025K的微小温差方面树立了新的性能标准。由于采用不锈钢测量头，它非常适合安装在特别有限和狭窄的空间内。 该紧凑型红外测温仪可在-20°C至150°C的温度范围内精确测量，并配有智能LED显示屏，可用作报警信号、目标支持、自诊断或温度代码显示。 新功能：CSmicro系列现在可以操作 通过新的IR移动应用程序（安卓）。 应用程序 能够监测和分析红外线 温度测量 智能手机或平板电脑。 测量规格 ...

温度: -20 °C - 150 °C
精确度: 1 %
频谱响应: 8 µm - 14 µm

红外测温仪optris CSlaser hs LT可测量0.025°C以下的微小温差，在持续监控产品均匀性等方面发挥重要作用。 此外，其双激光瞄准器确保了测量区域的精确标记，各种瞄准镜为各种应用提供了高度适应性。 测量规格 • 光学分辨率（90%能量）： 50:1 • 重复性（Tamb = 23 ± 5°C，Tobj>20°C）： ± 0.3% 或 ± 0.3°C1) • 温度分辨率：0.025 K（Tobj >20°C 和时间常数 > ...

温度: 600 °C - 3,000 °C

... CellaPort PT 135 是一款用于测量 600 至 3000 °C 温度的数字高温计，短波长窄带传感器在光谱区域工作，在这种区域中，视线路既不阻碍灰尘或蒸汽，也不会波动的发射率也不会干扰测量结果。 CellaPort PT 135 特别适用于检测金属（钨、钼等）和硅晶片的温度。 产品 特点： -范围：600 至 3000 °C -可聚焦、可互换的光学元件允许 精确的距离调节-带宽带抗反射涂层的精密镜头 -选择性短波长窄带光谱响应 -优化用于检测金属和硅的表面温度晶圆 -LED ...

温度: 600 °C - 3,500 °C

... CellaTemp® PA 35 是一款数字式测温仪，用于测量 600 到 3500 °C 之间的温度，短波长窄带传感器在一个光谱区域工作，这种光谱区域既不会阻碍灰尘或蒸汽，也不会影响测量结果。CellaTemp® PA 35 特别适用于检测金属（钨、钼等）和硅晶圆的温度。CellaTemp® PA 35 采用集成 LED 显示屏，可轻松从远处查看温度读数。使用 PC USB 连接设置发射率和平滑时间常数等参数，或执行诊断。或者，可以直接在连接电缆上设置发射率。 ...

温度: 750 °C - 3,000 °C

... CellaCrystal PX 44 是为硅和碳化硅晶体生产过程中的光学温度测量而开发的。其校准特别适合晶体生长过程。由于采用了混合信号评估技术，整个测量范围内的分辨率始终保持在小于 0.1 K 的高水平，并且采用了均匀光传感器技术，因此具有极高的长期稳定性，从而满足了对测量精度的高要求。 特点 测量范围 750 至 3,000 °C PX 44 AF 4：硅晶体生产专用校准装置 PX 44 AF 4：用于碳化硅生产的特殊校准 混合信号评估，计量分辨率高 自热最小，长期稳定性高 可对焦镜头，精确调整测量距离 标准功能：IO-LINK ...

温度: 300 °C - 3,000 °C

... IR-HA 系列是小巧轻便的红外线辐射温度计。 除了中温型（300 至 1000° C）和高温型（600 至 2000° C）外，还有两色型（600 至 2000° C）和单色型（400 至 3000° C）可切换的高功能型。 虽然使用固定对焦，但测量距离为 4m，测量直径小 φ20mm，直接查看取景器能够快速测量目标点。 -除了主单元背面的显示屏外，取景器中还显示测量值，因此在检查目标时可以看到测量值。 -发射率的影响很小，因为测量波长短 0.9μm 和 ...

温度: -25 °C - 3,000 °C
频谱响应: 2 µm - 14 µm
响应速度: 5 ms

... 简要说明 辐射温度计（高温计）采用坚固的不锈钢外壳，由于采用了热释电探测器的HEITRONICS斩波辐射法，测量性能高度稳定。非常快的响应时间和数字处理保证了对工艺条件的最佳适应。焦点激光或先导激光瞄准选项在安装过程中确认了数百种可用视场的光学对准。 -适用于广泛的应用、行业和科学领域 -不锈钢冷却和保护外壳 -真空法兰选项，也可作为非真空应用的快速释放法兰使用 -测量点小至Ø 1 mm -聚焦激光或导向激光瞄准选项 -测量的不确定性为±0.5 °C，外加被测物与仪器温度之差的0.7 %。 ...

温度: 0 °C - 2,000 °C
频谱响应: 2 µm - 15 µm
响应速度: 5 ms

... KTX--紧凑的全能型仪器。模拟信号处理与HEITRONICS的斩波辐射测量方法相结合，是一个可靠的经济组合。 -先导激光和内置温度显示选项 -环境温度高达180°C的高清版本，采用紧凑型外壳 ...

温度: -100 °C - 3,000 °C
分辨率: 0 °C
频谱响应: 2 µm - 20 µm

... 一个数字式砍伐辐射温度计(高温计)，没有什么可抱怨的。近20个优化的光谱范围和创新技术使KT15 IIP成为最通用的HEITRONICS仪器。KT15 IIP已成为许多工业、研究和环境应用的标准，用于质量保证和研究的过程控制监测。它能胜任最困难的测量任务。 -试点或聚焦激光器选项 -实时或编程的背景辐射补偿功能 -提供广泛的安装和保护硬件附件 -防爆不锈钢外壳可供选择 -信号过滤器 ...