Keller ITS带激光指针温度计

温度: 900 °C - 3,200 °C
分辨率: 0.1 °C
频谱响应: 0.9 µm - 1.05 µm

... >反射环境辐射与环境 温度补偿

• 超温信号：内部温度 > 80 °C 时模拟输出 > 20.5 mA
• 维护功能：模拟测量值或电流信号
• ATD（自动温度检测）：用于间歇工艺的自动温度识别

温度: 750 °C - 3,000 °C
频谱响应: 0.95, 1.05 µm
响应速度: 10 ms

... 175 mA

温度: 1,000 °C
精确度: 0.35 %
分辨率: 0.2 °C

... CellaCrystal PX 44是为硅和碳化硅晶体生产中的光学 温度测量而开发的。校准特别适合于生长过程。由于混合信号评估在整个测量范围内具有< 0.1 K的恒定高分辨率，以及恒定光传感器技术带来的非常高的长期稳定性，该设备满足了对必要的测量精度的高要求。 专题报道: PX 44 AF 4 用于硅晶体生产的特殊校准 PX 44 AF 7 用于碳化硅生产的特殊校准 高计量分辨率的混合信号评估 高长期由于自热极小，因此具有稳定性 可聚焦光学器件，可精确调整测量距离 标准：IO- ...

温度: 400 °C - 2,000 °C
响应速度: 100 ms

... 牙纹 8 引脚连接

温度: 700 °C - 1,700 °C
频谱响应: 0.8, 1.05 µm
响应速度: 20, 10 ms

... 摄像型号视频输出：复合PAL，1 Vpp，75 Ω
瞄准选项：透镜目视、 激光导光、内置摄像机

功能与显示
4位LED显示（红色），状态指示灯（2），3个控制按键
板载功能：污染监测阈值、烟尘因子、ATD（自动 温度检测）、测量值/电流仿真、内部高温时的报警行为（内部 温度 > 80 °C）

通用参数
连接：M12，8针
环境 温度：0 ...

温度: 250 °C - 2,500 °C
频谱响应: 1.1 µm - 1.7 µm
响应速度: 50, 2 ms

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• 瞄准选项：透镜视线、激光引导、视频相机
• 诊断/测试电流输出及测量值模拟
• ATD（自动温度检测）功能，适用于间歇过程

温度: 500 °C - 2,500 °C
频谱响应: 0.78, 1.06 µm
响应速度: 2, 50 ms

... PA 30 是一款数字单色（单波长）红外测温仪，用于非接触测量 400 至 2,500 °C。短波长范围（0.78–1.06 µm）在金属测量时具有更高的测量精度。瞄准方式可选透镜瞄准、 激光指示或可选视频摄像头。发射率、测量范围、平滑等参数通过后部按钮设置并显示在 4 位 LED 上；正常工作时显示当前测量 温度。

主要特性

• 测量范围 400 至 2,500 °C
• 可聚焦的可换镜头，可精确调整测量距离
• 宽带防反射精密光学元件

温度: 500 °C - 3,000 °C
频谱响应: 0.95, 1.05 µm
响应速度: 10, 20 ms

... 瞄准方式：通过镜头瞄准、 激光指示、视频摄像机模块

可调参数与功能

• 测量范围与量程选择
• 平滑滤波、存储模式、保持时间
• 发射率、透过率、反射环境辐射补偿
• 报警阈值与工作模式
• ATD（自动温度检测）功能与线性化（可选）
• 仿真与诊断功能；温度单位 °C/°F