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Hitachi/日立电子扫描显微镜
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倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 15, 4, 3 nm
集优异性能、操作简便性、多样化功能于一身 日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性,结合众多的自动化功能,可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察。 ①SU3900标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察 ■样品台可搭载超大/超重样品 • 通过更换样品提示,可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 • 选配样品交换仓,可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品,大大提高了工作效率 • ...
倍率: 6 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 4, 5, 15 nm
... 全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。 FlexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现最直观的视野移动。 • ...
倍率: 10 unit - 25,000,054 unit
重量: 54 kg
长度: 614, 617 mm
... 可结合其目的进行观察。 可在低真空的条件下进行二次电子像(表面形状)观察。 无需预处理,也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面 不仅是观察传统的导电性样品,还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。 高感度低真空二次电子检测器 采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光,可以观察带有二次电子信息的图像。此外,通过控制该检测器,来检测电子照射所产生的光,可以获得CL信息(UVD-CL: ...
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