HELMUT FISCHER光谱仪

... Fischeroscope® X 射线Xul® 系列采用紧凑型 X 射线荧光光谱仪设计，用于进行厚度测量和材料分析。 用于电镀行业，用于测量具有不同形状的物体（如螺丝、螺栓或螺母）的小部件。 它还具有来自电镀槽的金属含量，可以很容易地进行分析。 XULM 型号由微聚焦 X 射线管供电，专为测量小部件、插头触点和电线而设计。 它非常适合珠宝行业。 最后，其 X 射线源和探测器被专门放置在测量室的下方。 这样，就可以对样品进行简单而精确的定位。 ...

... XAN 220 由 Fischer 制造，是一种 X 射线荧光测量仪器，用于对金银合金进行快速、无损分析。 它可以在不破坏样品的情况下提供可比的结果。 它还具有从底部到顶的测量方向，这样可以快速轻松地定位样品。 ...

... X 射线荧光是一种测量仪器，用于对功能性涂层、腐蚀、安全涂料和散装部件进行手动或自动涂层厚度。 这是一个耐用的仪器，非常适合从 1mm 开始的结构尺寸和涂层厚度的测量，即使在巨大的测量距离（DCM，冲程 0-80 mm）时也是如此。 X 射线荧光具有固定的光圈和过滤器，以及一个巨大的宽敞的室与切口进行测量。 它还具有标准的 X 射线管和比例计数管。 它还配备可编程平台，用于自动测量。 X 射线荧光主要用于电镀、黄金、珠宝和钟表行业的浴分析。 ...

手持式、台式、在线： XAN®500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能最多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。 特点 • 手持式便携X射线荧光仪器 • 为镀层厚度测量和合金分析而优化 • 3点支撑，保证每次测量时的位置准确 • ...

... XUL®系列正是每個電鍍生產線的基礎設備。這些簡單易用且價格適中的能量色散X射線螢光分析儀非常適合監控鍍液成份，但在品質控制方面也是不可或缺的幫手：堅固耐用，非常適合測量批量生產的零件（如螺母和螺栓）上的電鍍層 。 XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中；或者，對於較小的物品（例如插頭），儀器可以配備手動樣品台。儘管測量設備緊密，但它們為您的樣品提供了足夠的空間-高度可達17釐米。 如果您有多種不同的測量任務，FISCHERSCOPE ...

... XUL®系列正是每個電鍍生產線的基礎設備。這些簡單易用且價格適中的能量色散X射線螢光分析儀非常適合監控鍍液成份，但在品質控制方面也是不可或缺的幫手：堅固耐用，非常適合測量批量生產的零件（如螺母和螺栓）上的電鍍層 。 XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中；或者，對於較小的物品（例如插頭），儀器可以配備手動樣品台。儘管測量設備緊密，但它們為您的樣品提供了足夠的空間-高度可達17釐米。 如果您有多種不同的測量任務，FISCHERSCOPE ...

• 根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩檢的通用X射線螢光光譜儀 • 高階半導體檢測器（PIN和SDD） 確保出色的檢測精度和高解析度 • XAN 250和252：用於測量鋁，矽或硫之類的輕元素； • 準直器：固定或4種可切換，最小測量點約為0.3mm • 基本濾片：固定或6種可切換 • 固定樣品支架或手動XY載物台 • 攝影機可輕鬆定位最佳測量位置 • ...

• 非破壞、快速、精確的金測試 • 寬敞的測量室 • 緊湊而堅固的設計，適合長期使用 • 無需樣品備製。只需簡單地將物品放在測量室的測量視窗上 • >攝影機會為您顯示確切的測量位置 • 對於當鋪和黃金買家：配備矽PIN探測器且設計緊湊的GOLDSCOPE SD510； • 對於當鋪，黃金買家和小型實驗室：配備矽PIN檢測器的GOLDSCOPE SD515 • 對於測試實驗室，化驗室和精煉廠：配備矽漂移檢測器（SDD）的GOLDSCOPE SD520，在最低檢測閾值下有最高解析度 • ...

... 分析、确定价值和检查真伪。 坚固耐用的 XRF 台式设备经过优化，可对珠宝、硬币和贵金属进行最强大、快速和无损的分析，也适用于较大部件的分析。 对黄金和贵金属进行 X 射线荧光分析。 GOLDSCOPE SD® 600 是费舍尔最强大的 X 射线荧光分析仪，用于黄金和珠宝检测以及贵金属分析。采用自上而下的测量方法，只需将样品放在手动操作的剪刀台上即可。激光指示器可辅助定位。因此，即使是几何形状复杂的样品也能轻松分析。 您的安全 贵金属合金的最佳测量性能 用途广泛。 是典当行、黄金交易、测试实验室和珠宝制造商的理想之选 均衡。 最佳成本效益比 调试。 快速简便，测量任务已预先编程 快速测量设计。 只需几个步骤就可放置样品并准备好进行测量 DPP+ ...

... 。 測量薄鍍層(≤ 0.1）μm，精確、快速、非破壞性。此外，對具有複雜成分或低濃度的XRF分析也能輕鬆實現。由於DCM（距離控制測量）方法的專利，即使是複雜幾何形狀樣品的鍍層厚度測量和材料分析也非常簡單。 正如您習慣的Fischer XRF 光譜儀一樣，XDAL 600也是普遍適用的。它具有電動可切換的4個準直器以及3種初級濾波器，為每次測量創造理想的激發條件，從而滿足最大的靈活性和廣泛的測量需求。數位脈衝處理器DPP+能夠處理更高的計數率，以獲得最高的測量精度和更短的測量時間。 這種能量色散 ...

• 能量色散X射線螢光光譜儀，自動進行材料自動分析和鍍層厚度的非破壞測量，採用ISO 3497和ASTM B 568標準； • XDLM的最小測量點： 0.1毫米; XDL的最小測量點：約 0.2毫米 • 鎢X射線管或鎢微聚焦管（XDLM）作為X射線源 • 經驗證可用於快速測量的比例接收器探測器 • 固定或可更改的準直器 • 固定或可自動切換基本濾片 • 可選擇手動或可程式設計的XY載物台； • 開槽箱體設計用於測量大的印刷電路板 • ...

• 能量色散X射線螢光光譜儀，自動進行材料自動分析和鍍層厚度的非破壞測量，採用ISO 3497和ASTM B 568標準； • XDLM的最小測量點： 0.1毫米; XDL的最小測量點：約 0.2毫米 • 鎢X射線管或鎢微聚焦管（XDLM）作為X射線源 • 經驗證可用於快速測量的比例接收器探測器 • 固定或可更改的準直器 • 固定或可自動切換基本濾片 • 可選擇手動或可程式設計的XY載物台； • 開槽箱體設計用於測量大的印刷電路板 • ...

... 種不同的半導體探測器。 矽PIN二極體是一種中階檢測器，非常適合在相對較大的測量區域內測量多個元素。配備PIN的XDAL通常用於檢查硬質材料塗層。 與矽PIN二極體相比，高品質的矽漂移檢測器（SDD）具備更好的能量解析度。如此配備的XDAL光譜儀可用於解決電子行業中的複雜測量任務：例如，測量薄合金層，或非常相似的元素（如金和鉑）的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用於ENIG和ENEPIG應用的品質控制 對於特別棘手的挑戰，Fischer還提供含有超大探測器表面的SDD。該探測器的優勢在於它能夠可靠地測量奈米級的鍍層 ...

... 適用於小型結構的自動測量 • DCM 方法可簡單快速地調整測量距離 • 完全受保護的儀器，根據現行輻射防護法規獲得型式認證 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD 是 Fischer 產品組合中功能最強大的 X 射線螢光儀器之一。該 XRF 光譜儀配備了一個強大的高分辨率矽漂移探測器 (SDD)，有效面積為 50 mm²。這讓您可以精確且無損的測量最薄的鍍層 - 例如。 導線架上約 2 奈米厚的金鍍層。 裝載全新內部研發的數位脈衝處理器 ...