荧光光谱仪 X-RAY XDV®-µ

X 射线荧光实验室测量

Fischer的FischerSchope® XDV®-Μ是X-射线荧光计算的系统，集成与polycapillary X-射线光学。 这个光学单位为自动化的测量应用通常被运用。 它为涂层厚度和构成的一般评估在紧凑材料和结构的也使用。 共同的应用领域FischerSchope® XDV®-Μ可以用于包括电脑板、leadframes、薄酥饼，稀薄的导线和更多。 FischerSchope® XDV®-Μ陈列各种各样与分析相关的特点。 这通过优化作用包括一个微量分析系统、100-µm或较少分析能力和全面强度。 它也以为特色a < 1nm测量误差率，并且测量房间与保险开关部分(C槽孔)竞争。