X射线荧光光谱仪 FISCHERSCOPE® XDAL®

测量用于电子工业紧凑型

FISCHERSCOPE®X射線 XDAL®是 XDL系列中最好的X射線螢光測量儀器。 和它的“小兄弟”一樣，它是從上到下方向測量的，這使得測試形狀奇怪的樣品也變得輕鬆便捷，為了優化您的任務的測量條件，配有可互換的準直器和過濾器作為標準配置。 對測量任務的要求越高，探測器的類型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導體探測器。 矽PIN二極體是一種中階檢測器，非常適合在相對較大的測量區域內測量多個元素。配備PIN的XDAL通常用於檢查硬質材料塗層。 與矽PIN二極體相比，高品質的矽漂移檢測器（SDD）具備更好的能量解析度。如此配備的XDAL光譜儀可用於解決電子行業中的複雜測量任務：例如，測量薄合金層，或非常相似的元素（如金和鉑）的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用於ENIG和ENEPIG應用的品質控制 對於特別棘手的挑戰，Fischer還提供含有超大探測器表面的SDD。該探測器的優勢在於它能夠可靠地測量奈米級的鍍層，並進行微量分析。使用這些XDAL設備，您可以測試用於高可靠性應用的焊料中的鉛含量，從而避免錫鬚。