高速测量系统

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轴测量机
轴测量机

多点测量机适用于旋转对称工件,可在动态测量时快速测定部件的几何形状。装载处位于可自由接触的测量位置上部,因此既可以手动装载,也可以通过工件处理自动化完成装载。 •独立控制测量过程的后处理多处测量系统 •可简便地集成在现有的自动化系统中 •经过优化的短暂进给运动 •可通过测量叉/卡尺灵活装备测量单元,配备智能的通用夹紧系统 •手动或自动装载/卸载 •改装时间短,利用率高 •辅助进行改装监控(防误防错原则) •自动校准设备 •也可作为测量装置用于外部控制

3D测量机
3D测量机
SmartScope® Flash 635

... SmartScope® Flash 635是一个高速的三维多传感器尺寸测量系统,适用于大型部件,提供测量速度和稳定性。花岗岩底座和挤压成型的轻质铝桥为测量的稳定性提供了一个刚性的正交结构。当仪器头在X、Y和Z轴上移动时,被测件保持静止状态。Flash 635还具有。 精密的光学系统 - 高质量的AccuCentric®变焦镜头可以为每个变焦位置自动补偿放大率 高速提高生产力 - 所有三个测量轴的加速度和速度都很高 高可靠性运输 - 刚性驱动系统有助于实现长期可靠性 多传感器的多功能性 ...

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Optical Gaging Products
直径测量系统
直径测量系统
LED50

压缩弹簧 •在生产阶段控制和分选压缩弹簧的长度和直径 •长度修正 •高速:最快速度 40,000 件/小时 •零件计数和批量管理 •最多5门分选器 •如果生产偏离机器停机 •4.0通信

坐标测量机
坐标测量机
ATOS ScanBox Series 6

ATOS ATOS ScanBox 6系 用于高效测量尺寸最大至 3500mm的零件 ATOS ScanBox 6系 在生产计量过程中,尽快识别、分析和改善质量问题至关重要。只有对零件进行尽可能全面的检测,才能及时进行针对性的修正,并最大程度降低报废率。 测量原理和功能 高速扫描 ATOS ScanBox 6135和6235配备安全控制装置,能够安装激光技术测量头。结合极亮的ATOS 5X光源,两款型号测量单元可以同时实现高吞吐量和高细节分辨率,尤其适合如车身制造过程中的测量需求。 兼备高装载性和灵活性 ATOS ...

磁偏角测量系统
磁偏角测量系统
DX-2012AM

... DX-2012AM永磁体磁偏角测量仪由一个三维亥姆霍兹线圈与一个独立的三分量磁通计连接而成,构成硬件测试部分。三分量测试数据经计算机转换后,形成一套完整的永磁材料质量检测系统。 将磁铁放在样品台上,用拉动法测试磁通分量,通过计算得到磁矩和磁场在主轴方向的偏离角。可显示总磁矩M、主轴磁偏角α、Øx、Øy、Øz及相应测试线圈的线圈常数。 硬件组成为高速32位M4单片机系统,内置3台磁通计,7英寸800*480分辨率液晶显示器。 单个亥姆霍兹线圈可用于测量永磁体在磁化方向产生的磁矩M。磁矩M可以通过关系式M=KH×Φ得到,其中KH是亥姆霍兹线圈常数,而Φ是磁感应器对线圈的磁通量。对于永磁材料样品磁化后的质量检测,采用亥姆霍兹线圈,已经相当普及和普遍。所设计的一维和三维亥姆霍兹线圈参与国际同行的参数互传是极为重要的。 ...

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Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd.
坐标测量机
坐标测量机
INSIGHT 800

... 用途: INGT 系列自动大行程,适用于二维坐标测量的所有应用领域。 广泛应用于液晶显示、LED 显示屏、触摸屏、手机平板电脑、大型玻璃制品、汽车零件、大型 PCB、薄膜、电视、五金、模具、仪器、塑料、精密电子、精密机械等。 产品特点: ■ 高精度大理石底座、工作台及柱保证高稳定性和刚性 ■ PMI 高精度直线导轨、TBI 研磨级滚珠丝杆 ■ 松下全闭环伺服电机,速度可调节 ■ RSF 高精度非接触光栅刻度,分辨率 0.0005mm ■ 可编程的 5 环 8 ...

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Leader Precision Instrument Co. Ltd
长度测量机
长度测量机
LMS200

... 准确性标准 我们精度最高的自动垂直测量仪只需按下按钮即可测量长度和厚度。 我们独有的数字干涉仪通过比较测量探头的位置和氦氖激光光源的波长来测量试样的尺寸,有效地将光的波长与被测件耦合。我们获得专利的激光路径与测量轴一致,消除了阿贝偏移误差。 Labmaster Standard 是一款终极量块比较仪,除量块外还有更多用途,可用作高精度高度测量仪。Labmaster Standard 还是测量聚脂薄膜、网格、磁带或磁盘基底和金属箔等薄而软的材料厚度的首选仪器。 ...

灯光测量系统
灯光测量系统
HiPA-TT

HiPA-TT透光率检测仪 1.超快检测速度,UPH 高达720 2.可定制的测试光斑形状及尺寸,适应不同检测对象需求 3.人性化的软件 UI 界面,即使是第一次接触也能轻松操作 4.定制化的输出结果,在全面的数据里挑选并处理出你关心的重点信息,实时监控 5.多种可扩展功能模组:扫码/视觉定位/自动上下料/温度控制等,满足多样化的需求 产品介绍 该设备用于测量透明材料的透光率, 通过测量光束通过样品前后的光谱能量分布变化情况, 得到样品在不同波长下的透光率,并进一步以此数据判断被测样品透光率是否合格

晶圆用测量系统
晶圆用测量系统
PA200 BlueRay

... PA200 BlueRay™可以对光电(如LED)、MEMS(如压力传感器)和RF(如SAW/BAW滤波器)设备进行高通量的功能测试。它的精确性确保了探针的平稳着陆,并具有安全、可重复的电气接触。PA200 BlueRay是为24/7的操作而设计的,可以很容易地在现场用晶圆处理机器人进行升级。 PA200 BlueRay™为高速精度设立了新的标准。它的精确性确保了探针的平稳着陆和安全、可重复的电接触。结合独特的Z-profiling功能,即使是高度的极端变化,如翘起的晶圆,也可以得到补偿。这种测试方法减少了焊盘的损坏,并在测试后很容易使器件粘合,即使是最薄的焊盘。FormFactor认识到,灵活性和模块化是解决你的生产测试需求的关键,我们已经创建了一个解决方案,可以根据你的要求进行扩展。随着产量需求的增加,一个专门为PA200 ...

形状测量机
形状测量机
GS2-HLS6560

... 自动尺寸测量设备 通过CCD相机进行二维测量的专用测量装置。用于测量液晶显示器的偏光板、导光板、背光单元的反射分散板、透镜板等片状或板状物的外部形状、线条、表面尺寸。此外,还可用于测量其他平面物体,如印刷板、印刷基材、以及其他许多金属、塑料、橡胶、海绵等物品(为了更精确地测量,可采用半自动测量)。 即使放大倍数、相机安装角度、光学图像失真等发生变化,也能保持测量精度。 测量结果以CSV格式输出,可兼容Excel。 高速自动尺寸测量设备 型号: GS2-HLS6560(650×600mm) 具有革命性的速度和精度!将改变您对二维测量设备的体验! 特征 ...

形变测量系统
形变测量系统
Q-400 DIC

... Q-400 数字三维图像相关系统是一种光学测量装置,用于真实的全场、非接触和三维测量,几乎由任何材料制成的部件和结构上的形状、位移和应变。 Q-400 系统用于测定拉伸、扭曲、弯曲或组合试验中的三维材料性能。 此外,变形和应变分析可用于疲劳测试、断裂力学、FEA 验证等。 广泛的应用范围 其灵活的设计打开了广泛的应用,从微电子或生物医学材料的微观研究到航空航天、汽车、船舶和铁路部件的大规模测量。 -先进材料(CFRP,木材,纤维注射 PE,金属泡沫,橡胶 ,...)-部件测试(形状,位移,应变,...) -材料测试(杨氏模量,泊松比,弹塑性行为) -断裂力学 ...

光学测量系统
光学测量系统
C12562-04

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C12562 是一款紧凑、节省空间的非接触式薄膜膜厚测量系统,可根据需要轻松安装在设备中。在半导体行业,因为硅穿孔技术的流行,硅厚度的测量至关重要;在薄膜生产行业,粘合层薄膜越来越薄,以满足产品规格。因此,这些行业现在需要更高的厚度测量精度,测量范围从 1 μm 到 300 μm。C12562 允许在 500 nm 至 300 μm 的宽厚度范围内进行精确测量,包括薄膜涂层和薄膜基板厚度以及总厚度。C12562 还提供高达 ...

厚度测量系统
厚度测量系统
C10323-02

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10323 是一种显微膜厚测量系统。如果物体具有会产生高水平散射光的不规则表面,则无法在宏观层面上进行测量。对于这些类型的对象,测量小面积会减少散射光,从而可以进行测量。 C10323-02 的电源电压为 AC100 V 至 AC120 V。 特点 • 微视野厚度测量 • 高速度和高精度 • 分析光学常数(n、k) • 提供外部控制 详细参数 • 型号 : C10323-02 • 可测量的薄膜厚度范围(玻璃) ...

湿度测量系统
湿度测量系统
HUMY series

... 固体水分是一个重要参数,对产品质量有很大影响,并能从根本上提高生产的经济效益。HUMY 3019 在许多工艺中都有成功应用,如制糖、烟草、谷物、麦芽、面粉、煤炭、沙子、木屑、干食品、化肥、粉末、颜料、塑料颗粒等。特别适合安装在输送带、螺旋输送机、筒仓、漏斗等地方。在批处理过程中也可以进行在线湿度测量。测量时,在高频范围内测量固体的相对介电常数和高频衰退。测量过程简便,校准时间短,精度高达 0.1%。测量探头以数字方式传输数据。除了温度和老化漂移自动补偿、数字和警报退出之外,系统监控本身还集成了数据记录器。设备通过两个模拟输出口输出测量值,并可通过两个数字输入口或 ...

重量测量机
重量测量机
QUBIC ONE

... - QUBIC One测量设备是一个先进的系统,用于非接触式测量包装物的体积,精度高,速度快,适用于有大量包装的公司。测量过程只需不到一秒钟,无需将物体放在测量区域内。 -Qubic One是一个非常坚固的设备,它的受力板、集成称重系统和滚珠轴承帮助包裹在其表面快速方便地滑动。它很容易被整合到包裹控制区,并具有快速启动的功能。 三重技术 它有一个红外传感器和三维摄像头,用于精确计算尺寸,以及我们的Xtrem数字传感器称重技术。 - 设计有一个刚性支柱,在结构的上部有受保护的三维摄像头。 - ...

激光测量系统
激光测量系统
TIR

... TIR测量系统是2015年国际印刷与创新奖的得主。它通过测量表面的 "三维景观 "来分析印刷套筒或滚筒的质量。这些信息使人们对印刷套筒或滚筒的状况有了全面的了解。有了这些信息,TIR就能建立起库存中每个印刷套筒或滚筒的确切状况的记录。随后,印刷套筒可以在正确的预设下被放入印刷机。 分析和解释数据 对测量的数据进行水平和垂直方向的分析,并给出。 - 一个总的平均数 - 最大和最小值 - 失圆度 - 整个套筒的地形图 实际测量的数据被添加到套筒的记录中。操作员还可以打印出套筒地形图的质量报告。 高质量的激光器进行测量,精度为5微米。TIR系统的精度可以监测导轨和轴的全长之间的距离。它对任何不规则的地方进行校准,以确保微米级的精度。产生一份完整的报告,以跟踪任何不规则的情况。操作员可以预先设定特定的公差,以确定套筒是否仍可使用。 检查每个套筒的确切状况的能力对于在印刷机上以最小的压力设置进行高速生产是至关重要的。磨损或损坏的套筒很容易被发现,这可以防止印刷机中与套筒质量不好有关的停机。它还有助于建立一个适合使用的套筒的库存。 ...

几何特征测量系统
几何特征测量系统
MEASLLEY III

几何特征测量系统
几何特征测量系统

... 轮对测量的激光系统是设计用来监测轮对的轮廓磨损。该系统由安装在轨道上的模块组成,提供以下功能。 车辆和轮对识别。 数据收集和处理,优化轮廓加工。 与Undefloor轮式车床完全通信。 车轮测量是在最高时速为10公里的车辆上进行的。测量范围可包括以下参数。 -整个车轮的胎面轮廓 -车轮凸缘高度。 -轮缘宽度。 -车轮凸缘倾斜度qR。 -车轮花纹直径。 -轮组背对背距离 -活动表面之间的距离。 与P.U.T. GRAW Sp. z o.o.公司合作制定的报价,该公司是轨道和机车车辆车轮测量系统的供应商。了解更多关于GRAW产品的信息。 ...

激光测量系统
激光测量系统
Prism

Prism 是一種先進的鑽孔系統,大大提高了快速準確的殘餘應力測量能力。 與傳統的應變片鑽孔系統一樣,該儀器測量由鑽孔引起的零件表面的變化,並確定先前存在的殘餘應力。然而,避免了耗時的應變計應用,並分析了孔周圍的大塊區域,而不是僅從幾個區域得到的平均值。棱鏡使用電子散斑干涉術(ESPI)測量表面畸變。只需最少的樣品製備。 棱鏡系統利用從樣品表面漫反射的鐳射光學測量表面畸變。棱鏡軟體管理測量,收集資料,分析結果和資料品質。 主要優點 • 少量準備: ...

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