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测量容量: 10 mm - 40 mm
解析度: 10 nm
... 满足最高要求的高性能千分尺 optoCONTROL 2700 是一款结构紧凑的 LED 千分尺，用于精确测量直径、间隙、边缘和区段。该千分尺具有极高的精度和测量速率。由于控制器集成在接收器中，因此可将布线和安装工作减至最少。 两种型号的测量范围分别为 10 毫米和 40 毫米，为自动化和质量保证领域开辟了众多应用领域。由于采用了主动倾角校正功能，倾斜度达 45° 的物体也能被极为精确地检测到。配置可通过网络界面方便地进行，并可对视频信号、滤波器和各种测量模式进行参数设置。在设置模式下，可使用阴影图像对测量对象进行简单校准。出色的性价比使其性能更加完美。 ...
MICRO-EPSILON
测量容量: 46 mm - 95 mm
解析度: 1 µm - 2 µm
... optoCONTROL 2520是一款集成控制器的紧凑型激光测微仪。高分辨率、测量范围为46毫米和95毫米的型号变体以及可变的安装距离使其在质量监测和生产控制方面有广泛的应用。测量对象可以放置在光幕内的任何位置，发射器到接收器的距离可以自由选择。 optoCONTROL 2520-46(090)和optoCONTROL 2520-95(270)测微仪提供了一个配备了90°旋转镜头的接收器。接收器的扁平设计简化了在有限空间内的安装过程。被测物体可以被放置在光幕内的任何位置。此外，光源和接收器之间的距离可以自由选择，最长可达2米。 ...
MICRO-EPSILON
测量容量: 10 mm - 40 mm
解析度: 10 nm
... 产品概述
profileGAUGE C.ODC 是一款预装配的高精度传感器系统，用于超细线材及小型圆形工件的双轴在线轮廓、外径与位置测量。两个 optoCONTROL ODC2700 光学千分尺以 X 型布置同时对目标的两个轴进行测量，在高速生产工艺下仍能可靠获取直径、轮廓与位置数据。
功能与集成
系统可提供高达 5 kHz 的测量输出频率。来自两轴的统计计算与后处理可由机控系统或上位评估系统完成。通过工业以太网接口并支持标准协议（TCP、UDP、FTP），可便捷集成到现有自动化与质量管理流程中。
主要特点
- 双轴精确测量直径、轮廓与位置
- 即插即用：预组装、校准并布线
- 支持同步与异步工作模式
- 支持通过
MICRO-EPSILON
测量容量: 5 µm - 160,000 µm
解析度: 0.01 µm - 100 µm
... Mituyo 激光扫描微米 LSM-500S 提供非接触式、高速和高精度测量，在 5μm 至 2mm 的测量范围内精度为 ±0.3μm，具有 ±0.03μm 的超高重复性。 激光扫描速度为 7 米/秒，Mituyo LSM-500S 可提供 3200 扫描/秒的测量区域为 1 毫米 x 2 毫米。 非接触式、高速、高精度测量 LSM-500S 测量单元 系列 544-5 ym 至 2 mm 测 量单元能够测量到 5 pm 外径 *1. 在整个测量范围内（5 pm 至 2 mm）提供 ±0.3 ...
测量容量: 10 mm
解析度: 0.01 µm - 10 µm
... 高精度非接触式测量系统 - 提供超高精度，在整个测量范围（0.05 毫米至 10 毫米）内线性度为 ±0.5 μm，在窄范围内线性度为 ±(0.3+0.1ΔD) μm。 - ±0.04 μm 的超高重复精度。 - 扫描速度高达 3200 扫描/秒 ...
测量容量: 0.1 mm - 50 mm
... 概述
BenchMike Pro 是一款台式激光测量仪，适用于切割的管材、软管、导线、电缆、光纤等样品的外径(OD)、内径(ID，使用治具时)及椭圆度检测。非接触激光传感器提供可追溯的尺寸结果，适用于挤出车间与质量控制实验室，支持即时反馈与数据导出以便过程控制。
特点 & 优点
- 两类型号（BenchMike Pro 2025 与 2050），覆盖 0.100–50 mm 测量范围。
- 计量性能可选：不同机型提供不同的精度与重复性（例如：±0.76
Nordson Measurement & Control
测量容量: 25, 50, 75, 100 mm
解析度: 5, 10, 15, 20 µm
... 一维光学测微仪采用 "阴影 "测量原理，将准直激光射向接收器。接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。光学千分尺是一种非接触式设备，除了能测量几何物体的间隙、边缘位置和尺寸特征外，还能理想地测量电线、棒和其他圆柱体的直径。 -直通光束千分尺 -发射器和接收器之间的距离远 ...
RIFTEK EUROPE
测量容量: 5 mm - 100 mm
解析度: 0.3 µm - 5 µm
... 一维光学测微仪采用 "阴影 "测量原理，将准直激光射向接收器。接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。光学千分尺是一种非接触式设备，除了能测量几何物体的间隙、边缘位置和尺寸特征外，还能理想地测量电线、棒和其他圆柱体的直径。 -配备远心镜头的高精度测微计 ...
RIFTEK EUROPE
测量容量: 8 mm - 40 mm
解析度: 1.5 µm - 4.5 µm
... 二维光学千分尺 RF657.2D 系列 2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 ...
RIFTEK EUROPE
测量容量: 0.66, 0.26 in
... 光学千分尺能够对任何曲面或平面进行非接触式测量。 该仪器可用于测量划痕、裂缝、龟裂、嵌入空隙的深度以及透明材料（如玻璃、丙烯酸）的厚度。它还可以测量划痕、裂缝、腐蚀、凹坑、瑕疵、小凹痕和其他缺陷。 使用 966A 型上的可选视网膜目镜，可以测量最大 0.040 英寸的宽度。 这款便携式仪器非常适合现场应用，如挡风玻璃、前缘、机身、机身表皮、螺旋桨叶片、转子叶片、涡轮叶片、涂层表面等。 说明 光学千分尺的外壳坚固耐用，游标刻度清晰易读。 966 型提供 100x 功率，允许深度测量达 0.665"。 ...
测量容量: 6 mm - 300 mm
... VEA光学测微仪有270多种型号，是在生产环境中直接精确测量100%零件的理想解决方案。这些千分尺可以同时进行表面质量控制。 VEA光学千分尺可以安装在任何类型的工厂或生产线上，而不会有精度损失的风险，因为它们有一个简化的校准系统，使得连接光学单元和照明器的预校准支架变得多余 VEA光学千分尺作为这些仪器的领先制造商，通过一系列专利技术保证了工业环境下的精度。 • - 带4级热补偿 LTC (实验室热补偿) 可以在生产环境中对温度范围在10°到60°之间的零件进行测量，其精度与计量实验室中的测量精度相同（20°±1°）。 • ...
测量容量: 3 mm - 100 mm
... 影子激光测微仪有广泛的应用，包括在汽车工业中测量刹车盘的厚度和发动机气缸的直径，在航空航天工业中测量飞机部件的高度，在医疗行业中测量人体组织的厚度，以及在制造业中测量玻璃、塑料和金属片的厚度。 影子激光测微仪的主要优势之一是它的高精确度和准确度，可以进行分辨率高达几微米的测量。它还具有快速、易于使用和非破坏性的特点，使其成为各行各业质量控制和检验的理想工具。 总之，影子激光测微仪是在各种应用中进行准确和精确测量的不可或缺的工具，为质量控制和检查提供了一个非接触和非破坏性的解决方案。 ...
测量容量: 5 mm - 100 mm
... 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 光学千分尺是一种非接触式设备，可理想地测量电线、棒材和其他圆柱体的直径，以及几何物体的间隙、边缘位置和尺寸特征。 主要特点 2 高达±0.3 μm的精度 3. 采样率高达10 000 Hz 4. RS232/RS485/Ethernet +4...20 mA/0...10V 5. 带远心镜头的千分尺 6. 传感器相互同步（主-从）：用于多轴测量任务 7.服务软件：用于千分尺参数设置 8.免费的SDK和示例：用于Windows, ...
... 应用领域 激光显微仪设计用于非接触式测量和控制技术物体的位置和尺寸（直径、厚度、间隙），以及测量液体和散装材料的水平。 LCE25 模型。 操作原理 微米操作基于所谓的 “阴影” 原则。 该微米由两个块 — 发射器，1 和接收器，2. 半导体激光器的辐射 3 由透镜 4. 与对象, 5 放置在准直光束区域, 形成阴影图像的扫描与 CCD 光探测器阵列 6. 处理器 7 从阴影边框（边框）的位置计算对象的位置（大小） ...
测量容量: 20 mm - 200 mm
... 摘 要扫描仪 AN-31RTL 是专为内表面的非接触式测量，轴的内径，圆柱形和锥形管，孔。 用于 计算内径、椭圆度、圆度 • 查找表面缺陷 • 重建 截面剖面、内表面三维模型规格扫描仪内径管道、内侧、孔 AN-31RTL 光源 型红色半导体激光 波长 660 nm 激光等级 3 级激光产品 输出 < 1 mW 一 般信息 测量范围, Z 轴 (高度) 20... 200 毫米 线性度, Z 轴 (高度) ± 0.05% 范围 测量频率 9,4 kHz 接口 RS232, RS485, ...