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测量容量: 10 mm - 40 mm
解析度: 10 nm
... 满足最高要求的高性能千分尺 optoCONTROL 2700 是一款结构紧凑的 LED 千分尺，用于精确测量直径、间隙、边缘和区段。该千分尺具有极高的精度和测量速率。由于控制器集成在接收器中，因此可将布线和安装工作减至最少。 两种型号的测量范围分别为 10 毫米和 40 毫米，为自动化和质量保证领域开辟了众多应用领域。由于采用了主动倾角校正功能，倾斜度达 45° 的物体也能被极为精确地检测到。配置可通过网络界面方便地进行，并可对视频信号、滤波器和各种测量模式进行参数设置。在设置模式下，可使用阴影图像对测量对象进行简单校准。出色的性价比使其性能更加完美。 ...
测量容量: 46 mm - 95 mm
解析度: 1 µm - 2 µm
... optoCONTROL 2520是一款集成控制器的紧凑型激光测微仪。高分辨率、测量范围为46毫米和95毫米的型号变体以及可变的安装距离使其在质量监测和生产控制方面有广泛的应用。测量对象可以放置在光幕内的任何位置，发射器到接收器的距离可以自由选择。 optoCONTROL 2520-46(090)和optoCONTROL 2520-95(270)测微仪提供了一个配备了90°旋转镜头的接收器。接收器的扁平设计简化了在有限空间内的安装过程。被测物体可以被放置在光幕内的任何位置。此外，光源和接收器之间的距离可以自由选择，最长可达2米。 ...
测量容量: 2 mm - 30 mm
解析度: 8 µm - 70 µm
... optoCONTROL 1200是基于光量测量的原理。这款紧凑的激光测微仪将所有的评估电子元件集成在机箱内，安装非常灵活。由于测量速率为100 kHz，因此可以测量高动态应用。 特性。 测量范围（毫米）。 2 | 5 | 10 | 16 | 20 | 30 线性度为±0.04mm 分辨率从8 µm起 高测量速率(100 kHz) 限位开关，开关频率高达60 kHz 不需要控制器 低成本模式 ...
测量容量: 10, 28 mm
解析度: 100, 10, 1,000, 1 µm
... 各种各样的应用模式 实现了轻松、高精度的检测 产品特性 简单 位置显示器使得光轴校准更容易。 只需调整传感器头使 位置显示器上所有的灯变红即可轻松校准光轴。 坚韧 外壳符合基于IEC 标准的IP67 标准，即使在一米深的水中 放置30 分钟也不会进水。 外壳能忍受不利的环境，提供了 长久的使用时间。 应用模式 应用模式 只需选择模式就能自动指定检测区域 IG 系列 - 多种测量功能：应用 内建的计算功能可以满足更多的应用 ...
Keyence/基恩士
测量容量: 5 µm - 2,000 µm
解析度: 0.01 µm - 10 µm
... 高精度的非接触测量系统 -测量范围从ø5 μm开始。 -在整个测量范围内（5微米至2毫米），提供超高的精度，线性度为±0,3μm。 -超高的重复性为±0,03 μm。 -3200次/秒的高扫描率 ...
测量容量: 0 mm - 12.7 mm
解析度: 0.001 mm
... 描述
WiMER1+ 是 WiMER1 的长距离版本。它读取 Mitutoyo 数显千分尺、百分表和卡尺的数字输出，并通过蓝牙低功耗（BLE）将测量值无线传输到 iPhone / iPad。用户可在 iOS 设备上查看实时数值和图表。传输距离在视距开阔环境下可扩展至 50 m（164 ft）。设备体积小，内置可充电电池，适用于便携测量场景。
潜在应用
- 曲轴挠度检测
- 转子跳动测量
- 孔径（孔）测量
- 表面轮廓检测
兼容 ...
测量容量: 25 mm - 100 mm
解析度: 0.5 µm - 3 µm
... 二维光学千分尺 RF657R.2D 系列 2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 ...
RIFTEK EUROPE
测量容量: 5 mm - 100 mm
解析度: 0.3 µm - 5,000 µm
... RF656XY 系列 - 高精度双轴千分尺 一维光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光射向接收器。接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投下的阴影边缘。光学千分尺是一种非接触式设备，除了能测量几何物体的间隙、边缘位置和尺寸特征外，还能理想地测量电线、棒和其他圆柱体的直径。 ...
RIFTEK EUROPE
测量容量: 15 mm - 60 mm
解析度: 0.5 µm - 3 µm
... 二维光学千分尺 RF657.2D 系列 2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 ...
RIFTEK EUROPE
测量容量: 0 mm - 1,000 mm
解析度: 0.0001 mm
... 亚微米通用计算机测微计无线 MICROTECH，采用无线和 USB 数据传输，符合工业 4.0 标准 通用测微计配备 7 对可互换的顶针：平面、球面、圆盘、刀片、点、花键、刀刃。 MICROTECH 亚微米测微计配有摩擦顶针和不旋转主轴。 计算机化的 MICS 测量系统具有以下功能 -带统计模式的内部存储器 -彩色 GO/NoGo 指示（限值） -峰值功能（最小/最大） -计时器（读取存储器或数据传输） -公式-计算指示器 Ax2+Bx+C -毫米/英寸选择 -温度补偿 -数学误差补偿 -无线数据传输至 ...
测量容量: 30 mm
解析度: 1 µm - 10 µm
... 用于测量齿轮齿宽的数字测微计，直接测量范围为30毫米，主轴螺纹间距为2毫米。 应用 - 用于测量外部齿轮的齿宽 技术数据 - 可切换的分辨率 10 µm, 1 µm, 0,5 µm; 0,0005", 0,00005", 0,00002" 。 - 主轴间距2.0毫米 - 主轴类型非旋转式 - 棘轮的测量力约为7N - 圆盘直径25毫米 - 7段显示器高度12毫米 - 接口 接近性（Sylvac） - 保护等级IP65 - 软件功能 MIN MAX, MIN-MAX Mem. - 误差限制 MPE ...
测量容量: 6 mm - 300 mm
... VEA光学测微仪有270多种型号，是在生产环境中直接精确测量100%零件的理想解决方案。这些千分尺可以同时进行表面质量控制。 VEA光学千分尺可以安装在任何类型的工厂或生产线上，而不会有精度损失的风险，因为它们有一个简化的校准系统，使得连接光学单元和照明器的预校准支架变得多余 VEA光学千分尺作为这些仪器的领先制造商，通过一系列专利技术保证了工业环境下的精度。 • - 带4级热补偿 LTC (实验室热补偿) 可以在生产环境中对温度范围在10°到60°之间的零件进行测量，其精度与计量实验室中的测量精度相同（20°±1°）。 • ...
测量容量: 25 mm - 100 mm
... 光学微分仪 AN-21SM 可以在高精度模式下测量几何参数和物体位置， 测量物体横截面的几何尺寸和平均直径等。在高精度模式下，测量物体横截面的几何尺寸和平均直径，控制和成品零件故障排除，控制细节而不拆卸。 微米是指 1 类激光产品，所以绝对安全。 规格 光学微米表 AN-21SM 光源 波长 660 nm 激光类 1 级激光产品 输出 10 mW 一 般信息 测量范围, Z 轴 (高度) 25.. 100 毫米 线性度, Z 轴 (高度) 3 微米 测量 频率 9,4 千赫 接口 ...
测量容量: 175 mm
... 有效校准螺纹插头量表和丝锥。 提供螺纹的主要小直径校准。 机械/电子型号 范围：0-100 毫米/0-4 和0-175毫米/0-7。 分辨率：0.0002 毫米 / 0.0001 毫米 重复性：0.002 毫米/0 .0002 毫米 精度：0.004mm / 0.002mm 带 P10 探头 配件：螺纹测量线、棱镜、圆柱形主和锥形螺纹塞附件。 ...