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... 数字显微镜用于故障分析、质量保证和控制、研究和开发或取证。出色的光学技术、直观的操作和智能软件使用户能够获得可靠的结果。 大的变焦范围（16:1）允许在不同的放大倍数之间快速变化。物体领域是可变的，从0.18到35毫米，无需重新对焦。倾斜支架（-/+60°，使用适配器可达到90°）和旋转样品台（-/+180°）只需一只手就可以简单操作。高分辨率的1000万像素摄像头，可快速显示实时图像（每秒30幅）。用于二维和三维测量的智能软件，可重复的结果和报告的创建只需点击几下即可。 ...
倍率: 10 unit - 250,000 unit
... 台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。 我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念，开发出TM4000系列。在此基础上，我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。 观察图像3分钟。可迅速获得所需数据，并制作报告。 观察与分析的灵活性 自动获取各类数据。快速切换！ 可快速获得元素分布图 * 使用Camera Navi*的话，就是如此简单 Camera Navi图像让您轻松找到视野，分布图(MAP)功能全程支持您的观察 操作简单且快捷 观察图像只需 ...
空间分辨率: 0.01 nm
... 模块化大面积光学显微镜 UP-5000 6 合 1 光学轮廓测量成像分析。 干涉仪 + 共焦 + 光谱膜厚 + 暗场 + 可变焦距 + AFM + 拉曼 多功能精确计量 光学轮廓仪 UP-5000 的技术、性能、分辨率和多功能性独树一帜。UP-5000 配备了快速扫描、多种成像技术和高分辨率，为大型样品表面成像提供了最佳解决方案。 高速摄像头 业界领先的 200 FPS 相机。亚纳米级快速精确测量。 最高 Z 分辨率 先进的最新一代编码器可提供最佳 Z 分辨率，与扫描距离或使用的放大倍率无关。 模块化多功能平台 300 ...
RTEC Instruments
空间分辨率: 0.01 nm
... UP-3000 高级紧凑型光学轮廓仪 一台三维轮廓仪可实现 5 种成像模式 共焦 + 干涉仪 + 暗场 + 可变焦距 + 明视野成像 高级显微镜 三维光学轮廓仪 UP-3000 的技术、性能、高精度、高分辨率和多功能性独树一帜。它具有快速扫描和高分辨率的特点，为表面轮廓分析提供了最佳解决方案。 超高速 业界领先的相机，200 Fps，nm 分辨率。 轻松获得最佳分辨率 只需点击一下按钮，即可获得任何样品的最高 XYZ 分辨率。 多功能平台 开放式平台、自动 XY 平台、尖端倾斜平台、精密工程设计 新一代光学轮廓仪技术 最快的共焦技术--一次扫描完成整个区域的扫描 圆盘及其 ...
RTEC Instruments
... 全自动多点位3D测量 纳米/微米/毫米 一台即可完成测量 形状测量激光显微系统 VK-X4000 系列采用了“三重扫描方式”，灵活运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理，对各种目标物进行高精度的测量和分析。此外，对于镜面体、透明体等测量难度高的材料也能进行高速、高精度、大范围的测量。它还新增了多点测量功能，能轻松地对多个目标物进行全自动多点测量。无需复杂的设定即可自动化多点测量。通过减少作业时间和增加测量采样点数，提升研发的客观评估和可靠性。 一台设备搭载三种测量原理 不易受材质或形状影响，可实现高精度3D测量 可通过多点自动测量轻松地进行3D测量 粗糙度自动分析应用程序 Ra相同，但外观不同。 传送至AI-ANALYZER后，瞬间判定多个“粗糙度参数”中哪一个的差较大。 “Ra”、“Rz”多用作粗糙度参数，除此之外还有很多“粗糙度”。 使用AI-ANALYZER迅速可知哪项粗糙度参数更值得评估。 兼容高/低倍率测量，适用于平面与曲面形貌 适用于各种目标物的测量能力。 ...