测量系统

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玻璃测量机
玻璃测量机
COLD lab

... Tiama Cold 实验室可用于冷端圆形玻璃容器的离线统计尺寸测量,通过取样或在实验室进行。 Tiama 冷实验室的特点和优点: -自动装载,包括输送机,间隔装置和气动臂 -配备精密秤的重量 测量-基于两台高清矩阵摄像机的尺寸测量,配备了远心镜头和组合带菲涅耳镜头光源,以获得准确的结果 -用于玻璃容器体厚度测 量的彩色探头,自动聚焦-使用两 个触摸探头进行内径测量的接触式测量设备-Windows 用户友好的 HMI 允许在无需更换作业时间的多条生产线 -数据管理:记录和与客户网络共享 -使用专用工具进行自动校准 ...

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Tiama Group
直径测量系统
直径测量系统
TRAMES Unique 2D

... TRAMES Unique 2D是一个光学测量系统,专门用于在工业环境中测量大质量的铝挤压工具。一个自动化的测量平台使安装和操作更加容易。 为公司量身定制的测量解决方案 Impol 为了保持高水平的质量,我们也特别关注尺寸的准确性。LOTRIC计量公司为我们提供了一个完全定制的解决方案,用于测量铝挤压工具,M3软件确保我们所有工具在使用前后的可追溯性。 一般特点 测量对象举例:圆孔、六面体、角钢、管子、特定型材、方块...... 测量圆形的圆度 ...

几何测量系统
几何测量系统
Fixturlaser NXA Geometry

光学透镜测量机
光学透镜测量机
CLE 70

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Essilor
厚度测量系统
厚度测量系统
M-thick

... 墙体粘稠度 m-Thick光学传感器测量任何透明或半透明材料的总厚度,包括涂层。玻璃行业的主要应用是。 TFT e LCD面板 电子产品的薄玻璃 医药管和照明管 钟表业的玻璃板 M-thick干涉式光学传感器可以在生产线和QA/QC实验室中测量玻璃板、管子和物体的总厚度。测量是无接触的,提供微米级的精度 优势 反射法不需要 反射头 - 高精度 - 对操作人员完全安全(非电离和 非放射性光)。) - 使用方便 - 多头布局 - ...

扭矩测量系统
扭矩测量系统
UDM 5

视角测量系统
视角测量系统
CubeX

... 角度测量 CUBEX ELDIM 的多光谱角度映射:CubeX 非常适合多次测量,重量轻,易于操作。 速度快、精度高、用途多,是研发团队和大规模生产线的理想选择。 产品概述 CubeX-150 这款新产品基于 ELDIM 获得专利的全新技术。 该设备提供轴向光谱信息,轴向波长分辨率为 2nm。它可以在 0.5 秒内测量出全彩地图,在 +/-60° 的视锥范围内,地图的角度分辨率为 1°。 该设备的测量时间小于 2 秒,所有数据均可通过以太网电缆或 ...

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ELDIM
局部放电测量系统
局部放电测量系统
3i

... 开关设备和电缆监控系统。 便携式多用途 3i 设备(智能绝缘指示器)用于在线有效监测高压设备绝缘。3i 设备可测量和分析局部放电 (PD)。为实现有效的局部放电测量和噪声抑制,设备中使用了两种传感器:声学传感器和 TEV 传感器。这两种传感器都内置在设备外壳中,因此不需要任何连接电缆。设备采用坚固的金属外壳,面板上有彩色屏幕和两个按钮:电源按钮和功能按钮。 功能特点 多用途 3i 设备可用于以下设备的在线绝缘状况评估: - 各种设计的 ...

重量测量系统
重量测量系统
PALLETSCAN 300 LITE series

... PALLETSCAN 300 LITE 是一种仅用于自动检测托盘重量和高度(其余尺寸已知)的系统。 - 该系统由用于确定托盘高度的传感器、用于检测重量的地面称重平台和用于拍摄处理后托盘照片的数码相机组成。 - 操作员可以通过触摸屏选择托盘的基本尺寸(宽度和高度),也可以通过条形码读取托盘的基本尺寸 - 收集到的数据由一个计算长方体体积的终端采集 - 控制面板可独立管理称重系统和外围设备 - 配有相应的管理软件和触摸屏显示器 ...

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SIPI - Pesatura, Logistica e Automazione
容量测量机
容量测量机
CHRONECT H53

... 基于H53的全自动测定水中碳氢化合物指数的测量站 现在,水中碳氢化合物指数的测定主要是根据EN ISO 9377-2(H53)标准通过气相色谱法测定。我们为客户提供了基于该标准的全自动分析的可能性,即通过提取、相分离、提取纯化、浓缩和GC分析等工作步骤。0.05 mg/L的测定限可以很容易达到,0.1 mg/L是必须的。萃取是在一个涡旋混合器中进行的。这使每个样品的准备时间减少到15分钟。气相色谱运行大约需要25分钟。这意味着客户使用CHRONECT工作站H53每天可以处理大约60个样品。自动方法中使用的体积与标准中使用的体积不同。 15 ...

功率测量系统
功率测量系统
260 series

... TEGAM 温度稳定同轴射频功率传输标准可精确测量 700 MHz 至 3500 MHz 频率范围内的高功率(+34 至 +54 dBm)微波功率。 TEGAM 2602A 工作标准由定向耦合器和 1505A 热敏电阻功率标准组成。耦合器和 1505A 安装在铝制散热器上,以减少加热引起的耦合系数变化。这些标准件精度高,随时间和温度变化稳定。它们非常适合用作将校准因子转移到其他高功率射频标准和功率传感器的标准。 这些标准的校准可通过美国国家标准与技术研究院 (NIST) ...

几何特征测量系统
几何特征测量系统
CL

... 该机器设计用于在钢制轮辋与圆盘组装前,特别是在成型线上进行加工,以检查轮辋在成型过程的不同阶段的尺寸一致性。 进行的测试 - 测量 ...

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Test Industry
霍尔效应测量系统
霍尔效应测量系统
DX

... 霍尔效应测量系统用于测量什么? 霍尔效应测量系统用于测量霍尔元件的散装载流子浓度、片状载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、磁阻等。 霍尔效应测量系统的工作原理: 霍尔效应是指在导体上产生的电位差(霍尔电压),该电位差与导体中的电流和垂直于电流的外加磁场成反比。霍尔效应由埃德温-霍尔于 1879 年发现。 霍尔效应的本质:当固体材料中的载流子在外加磁场中运动时,由于洛伦兹力的作用,运动轨迹发生偏移,材料两侧发生电荷积累,形成垂直于电流方向的电场;最后,载流子的洛伦兹力与电场斥力相平衡,从而在两侧形成稳定的电位差,即霍尔电压。 霍尔效应测量系统的可测试材料: 半导体材料:SiGe、SiC、InAs、InGaAs、InP、AlGaAs、HgCdTe ...

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Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd.
伽玛射线测量系统
伽玛射线测量系统
ISO-CART-85

完整的原位NDA伽马射线分析解决方案,适用于各种样品,包括“解排放”的退役废物 测量所有常见的几何形状:管道、钢瓶、地板、天花板、墙壁、桶、箱和土壤 易于操作的推车,可在任何表面上推动 有多种准直器和屏蔽可供选择,适用于不同的测量情况 连续的高度调节和可变的角度调节 ISOTOPIC软件,其结果已在数千个真实样本中得到验证 由工厂预先校准或可以用一个便宜的混合同位素点源进行校准 灵活的报告:可以以克或活度(Bq或Ci)显示测量结果 ISO-CART-85是一款通过高分辨率伽马能谱进行放射性废物分析的新型移动测量系统。通过使用单个超大面积高纯锗(HPGe)探测器和模块化准直系统,ISO-CART-85在许多情况下都可实现在解排放水平下的合理计数时间,适合现场测量。 HPGe探测器以ORTEC ...

深度测量系统
深度测量系统
iSmartTTM 600

... TTM619 是一款乘用车轮胎花纹深度测量工具,精度可达 0.1 毫米。车辆只需驶过,即可实现准确、便捷的胎面深度测量。该设备还能准确、快速地检测车辆每个轮胎的磨损状况,为轮胎更换和车辆维修提供参考。 功能 可为您的商店解决哪些问题 TTM619 轿车通过式轮胎花纹深度测量设备,用于检测四轮轿车的轮胎花纹数据和轮胎磨损状态。 胎面深度测量 车辆驶过后,自动识别轮胎沟槽数量并测量其深度。 车牌识别 支持车牌自动识别 检测报告 快速生成胎面深度检测报告,显示胎面深度数据、磨损分析、制动距离估算、保养建议等,并支持报告共享 多种通信方式 PC ...

水平调节仪测量系统
水平调节仪测量系统
UN-14

... 声级计装置 构建灵活的测量系统,可同时测量声音和振动。 * UN-14 和 UV-15(振动测量单元)可连接成一个多达 16 个通道的测量系统。 * 背光 LCD 和 LED 警告指示灯。 * 可安装在机架上,用于车间或实验室安装。(可选配符合 JIS 标准的机架 CF-27) * 选件:电池组单元 (BP-17)、接口单元 (UV-22) ...

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RION Co., Ltd
3D测量机
3D测量机
INSIGHT500

... 用法: INSIGHT系列自动大行程适用于所有应用领域的二维坐标测量。3D也是如此。广泛应用于LCD、LED显示屏、触摸屏、手机平板、大型玻璃制品、汽车零部件、大型PCB、电影、电视、五金、模具、仪器、塑胶、精密电子、精密机械等领域。 特点: 高精度的大理石底座、台面和立柱,确保高度的稳定性和刚性。 HIWIN高精度直线导轨和TBI研磨级滚珠丝杠。 松下全闭环伺服电机,速度可调节。 RSF高精度非接触光栅尺,分辨率为0.0005mm。 可编程5环8区环形面灯,满足不同角度的照明需求。 全自动变焦镜头,更换放大倍数时无需重新校准,节省校准时间,避免人为错误。 可选雷尼绍接触式测头,用于高度、深度和其他三维测量。 可选THK直线导轨和滚珠螺杆 可选的KEYENCE激光位移传感器,用于粗糙度、平面度表面测量。 可选的光谱共聚焦传感器,用于测量小而敏感的表面。 ...

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Leader Precision Instrument Co. Ltd
易燃易爆气体测量系统
易燃易爆气体测量系统
BB006

... 多用途的实验室测试 用于自动监测烟气中一氧化碳、一氧化氮、二氧化硫和氧气浓度的测量系统。 - 气体调节,带有两级珀尔帖冷却器和各种过滤器 - 用于监测和显示操作状态的状态模块 - 配有加热的气体管道和移动式加热的气体样品探头 - 19"- 带轮子的机架,便于运输到不同的采样点 ...

局部放电测量系统
局部放电测量系统
CableData® Collector

... CableData Collector™ 可识别并报告 LIVE MV/HV 电缆网络中的 PD 活动。这种早期识别有助于减少中断维护的需要,因为它可以突出高风险区域,为维修和更换提供充足的时间。 优势 - 经济高效地收集准确的 PD 数据,无需部署专业工程师 - 从带电中压/高压电压电缆中收集 PD 信息,消除了昂贵的离线测试风险 - 快速评估大量电缆,全面了解配电电缆网络的状况 - 在电缆故障前发现电缆缺陷,防止意外停电 - 轻巧、便携、随时可用 - 快速找出需要更详细分析技术的电缆 特点 - ...

直径测量机
直径测量机
LMU-175

... 精度标准......31 年来一直是工业领域最受欢迎的仪器! Labmaster 通用型 - 型号 175 的仪器不确定度为百万分之一英寸(50 纳米),几乎适用于所有内径(ID)、外径(OD)和同侧尺寸(SD*)测量应用。普惠公司为需要精确测量长度、外径、内径、节距直径、导程、大/小直径、锥度、线性位移和厚度的量具校准实验室开发了这款基于激光的通用长度测量机 (ULM)。 其激光干涉仪、零阿贝偏移设计和带中心位置、高度、俯仰和偏航控制的大型测量台(承重 100 ...

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Pratt & Whitney
电阻测量系统
电阻测量系统
SRMR-3

... 片材电阻测量辊 SRMR-3 片状电阻测量辊是一种用于在连续加工过程中原位接触测量聚合物薄膜片状电阻的设备,测量范围为 5 至 1000 欧姆/平方英寸。该设备可在真空和空气环境中使用。 SRMR-3 可用于自动控制各种导电涂层的薄层电阻。测量连续进行,过程显示在控制系统显示屏上。 SRMR-3 是一个带接触铜环的介质辊。使用交流信号对铜环和基体之间的三个接触点进行测量,以避免干扰近距离的磁控管。测量区域的布局可根据客户要求进行更改。 与铜环的连接通过安装在法兰上的电子真空馈入装置进行。电子控制单元通过 ...

双折射测量系统
双折射测量系统
RDG 4000 TR

... RDG4000 TR是Gilardoni的解决方案,通过 "声学双折射 "来测量铁路车轮的内部残余应力。事实上,这种测量方法显示了超声波的传输速度是如何受制于被测车轮部分的不同应力状态的。 该设备使用了EMAT探头,它的优点是不需要凝结液体。 EMAT探头的标准配置是两个相等的换能器,在两个垂直的平面上产生线性偏振的横向波,所以传输方向是: ■ 一束:水平极化的传播方向与车轮的滚动平面平行; B波束:垂直极化的传播方向垂直于车轮的滚动平面; 对于每个换能器,通过与第一个后壁相关的飞行时间来测量声学双折射。 回声。对于每个测试点,测量冠轮深度旁边的圆周应力的平均值。 EMAT探头可以通过一个机械支架沿径向扫描,该支架可以很容易地放在轮子上,并用两个磁铁锁定;扫描允许从位于径向扫描的不同点收集数据。探头支架的扫描由运行在同一台电脑上的SW程序管理。残余应力是根据两个不同参考平面上剪切波速度的变化(如果有的话)来测量的。如果速度变化可以忽略不计,那么残余应力就近乎不重要。 ...

灯光测量系统
灯光测量系统
HiPA-TT

HiPA-TT透光率检测仪 1.超快检测速度,UPH 高达720 2.可定制的测试光斑形状及尺寸,适应不同检测对象需求 3.人性化的软件 UI 界面,即使是第一次接触也能轻松操作 4.定制化的输出结果,在全面的数据里挑选并处理出你关心的重点信息,实时监控 5.多种可扩展功能模组:扫码/视觉定位/自动上下料/温度控制等,满足多样化的需求 产品介绍 该设备用于测量透明材料的透光率, 通过测量光束通过样品前后的光谱能量分布变化情况, 得到样品在不同波长下的透光率,并进一步以此数据判断被测样品透光率是否合格

表面重量测量机
表面重量测量机
MARVELOC CURTAIN O-frame

... 交钥匙 CURTAIN 设备集成了工业用 M-Ray 测量技术。作为工业生产线的一部分,这些机器可全天候进行测量。每个 CURTAIN O 型架和 C 型架都包含一个或多个基于 M-Ray 的测量头。这些传感器头可测量各种平面半成品的基重、厚度或异常。由于 M-Ray 技术的特性,测量间距可高达 30 厘米。高间距有利于测量厚材料,并避免材料上的划痕和缺陷。 除了基于 M-Ray 技术的 Marveloc 传感器头,Hammer-IMS 还可以将其他类型的传感器(参见传感器融合页面)集成到移动或固定的 ...

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Hammer-IMS
脉冲响应测量系统
脉冲响应测量系统
SMU

... SpikeSafe 源测量单元是一种精密脉冲源测量单元,可精确采集脉冲电流并同时将电压数字化。SpikeSafe™ SMU(源测量单元)电流源专为精确和可重复的大功率 LED 和激光测试而优化,具有精确脉冲、低微秒上升时间、低抖动触发和集成数字转换器,可实现更精确和可重复的大功率 LED 和激光测试。结合 Vektrex 易于使用的控制面板软件应用程序,使用快速脉冲源测量单元可快速、轻松地扫描和生成 IV 曲线。 SpikeSafe SMU 支持电流高达 10A ...

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