扫描电子场发射显微镜 Crossbeam

用于材料高解析度模块化

将高分辨率场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）的成像和分析性能与新一代聚焦离子束（FIB）的处理能力相结合。您可以在多用户设施、学术机构或工业实验室工作。利用蔡司 Crossbeam 的模块化平台概念，根据不断增长的需求升级您的系统，例如使用 LaserFIB 进行大规模材料烧蚀。在铣削、成像或进行三维分析时，Crossbeam 将加速您的 FIB 应用。 最大限度地提高扫描电子显微镜的洞察力 提高 FIB 样品吞吐量 在 FIB-SEM 分析中体验最佳 3D 分辨率 最大限度地提高您的 SEM 洞察力 使用 Gemini 电子光学技术，从高分辨率 SEM 图像中提取真实的样品信息。 Crossbeam 的 SEM 性能可用于二维表面敏感图像或三维层析成像。 即使使用极低的加速电压，也能获得高分辨率、对比度和信噪比。 使用一系列探测器对样品进行全面表征。利用独特的 Inlens EsB 探测器获得纯材料对比度。 研究非导电样品，不受充电伪影干扰。