蔡司Xradia 610和620 Versa型电脑
三维X射线显微镜对完整样品进行更快的亚微米级成像
超越探索,实现您的发现时刻。
通过蔡司Xradia Versa系列中最先进的3D X射线显微镜模型,为您的科学和工业研究解锁新的多功能性。
基于行业最佳的分辨率和对比度,蔡司Xradia 610和620 Versa扩展了您的非破坏性亚微米级成像的边界。
亮点
扩展微型和纳米CT解决方案的局限性
完整样品的非破坏性亚微米级显微技术。
更高的通量和更快的扫描速度,而不影响分辨率。
真正的空间分辨率为500纳米,最小可实现的体素尺寸为40纳米。
在广泛的样品类型、尺寸和工作距离范围内都具有高分辨率。
在受控环境下,随着时间的推移,对微观结构进行非破坏性表征的原位成像。
可根据未来的创新和发展进行升级和扩展。
吞吐量与图像质量
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