X射线显微镜 Xradia 510 versa

实验室3D原位

蔡司Xradia 510 Versa 您的3D亚微米成像系统具有突破性的灵活性。 这款X射线显微镜可用于3D成像和原位/4D研究，打破了一微米分辨率的障碍。 利用分辨率和对比度与灵活的工作距离的结合，扩展实验室非破坏性成像的能力。 受益于其采用两级放大技术的架构，实现亚微米级的远距离分辨率(RaaD)。减少对几何放大倍率的依赖，即使在大的工作距离也能保持亚微米分辨率。 亮点 即使是在距离源头较大的工作距离下也能享受到多功能性--从毫米米到厘米。 通过先进的吸收和创新的相位对比，对软材料或低Z材料进行3D成像。 以灵活的工作距离实现世界领先的分辨率，超越了基于投影的微型CT的限制。 为不同的样本大小解析亚微米尺度的特征 使用原位/4D解决方案扩展您的实验室非破坏性成像。 在类似本地环境中调查材料随时间的变化 吞吐量与图像质量