蔡司Xradia 410 Versa
您的3D亚微米成像的主力解决方案。
弥合基于实验室的无损亚微米显微镜的差距
Xradia 410 Versa 弥补了高性能 X 射线显微镜与功能较弱的计算机断层扫描 (CT) 系统之间的差距。Xradia 410 Versa 提供具有行业最佳分辨率、对比度和原位功能的非破坏性 3D 成像,使您能够对最广泛的样本尺寸进行突破性研究。这款功能强大、成本效益高的 "主力 "解决方案,即使在不同的实验室环境中也能增强成像工作流程。
亮点
行业领先的4D和原位能力,可实现灵活的样品尺寸和类型。
Xradia 410 Versa X 射线显微镜提供经济高效、灵活的 3D 成像,使您能够处理各种样品和研究环境。非破坏性的 X 射线成像可长期保存并延长您宝贵样品的使用时间。该仪器实现了0.9微米的真实空间分辨率,最小可实现的体素尺寸为100纳米。先进的吸收和相位对比(适用于软材料或低Z材料)为您提供了更多的功能,以克服传统计算机断层扫描(CT)方法的局限性。
Xradia Versa 解决方案将科学研究扩展到基于投影的微型和纳米 CT 系统的极限之外。传统的断层扫描依赖于单级几何放大,而Xradia 410 Versa则采用基于同步辐射口径光学的独特两级流程。
---