紫外线光谱仪 Nexsa G2 XPS

X射线X 光光电子数据采集

Thermo Scientific Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统提供全自动、高通量的表面分析，可提供用于推进研发或解决生产问题的数据。通过将 XPS 与离子散射光谱 (ISS)、紫外光电子能谱 (UPS)、反射电子能量损失光谱 (REELS) 和拉曼光谱相结合，它可以让您进行真正的相关分析。 该系统现在还包括样品加热和样品偏置功能选项，以扩大实验范围。Nexsa G2 表面分析系统为材料科学、微电子学、纳米技术开发和许多其他应用领域的进步挖掘了潜力。 Nexsa G2 表面分析系统的特点 高性能 X 射线源 经过优化的新型 X 射线单色器设计，可以以 5 微米为单位选择从 10 微米到 400 微米的分析区域，确保从感兴趣的特征收集数据，同时最大限度地提高信号。 优化的电子光学 高效电子透镜、半球形分析器和探测器实现了极佳的可探测性和快速数据采集。 XPS 样品观察 Nexsa G2 表面分析系统的专利光学观察系统和 XPS SnapMap 可帮助您快速确定感兴趣的区域，从而聚焦样品特征。 XPS 绝缘体分析 获得专利的双束泛射源将低能量离子束与极低能量电子（小于 1 eV）耦合在一起，以防止样品在分析过程中充电，从而在大多数情况下无需进行电荷参照。