X光光电子光谱仪 K-Alpha XPS

用于光学仪器数据采集Alpha阿尔法射线

用于高性能表面分析的X射线光电子能谱仪。 K-Alpha X射线光电子能谱仪 Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪（XPS）系统为表面分析带来了一种新方法。K-Alpha XPS系统专注于使用简化的工作流程提供高质量的结果，使XPS操作简单直观，而在性能或功能方面没有任何牺牲。 K-Alpha XPS系统具有最先进的性能，降低了拥有成本，增加了使用的便利性，以及高的样品吞吐量，使其成为多用户环境的理想选择。K-Alpha XPS系统使全世界更多的研究人员有机会进行表面分析。 K-Alpha X射线光电子能谱仪的特点 高性能的X射线源 X射线单色器可以在50微米到400微米的范围内以5微米为单位选择分析区域，与感兴趣的特征相适应，以使信号最大化。 优化的电子光学器件 高效的电子透镜、半球形分析器和检测器使其具有极好的可检测性和快速的数据采集。 样品观察 K-Alpha XPS系统的专利光学观察系统和XPS SnapMap可以帮助您快速定位感兴趣的区域，使样品特征成为焦点。 绝缘体分析 获得专利的双束洪流源将低能量的离子束与极低能量的电子（低于1 eV）耦合在一起，以防止分析过程中的样品充电，这在大多数情况下消除了电荷参考的需要。 深度剖析 用EX06离子源超越表面。自动的源优化和气体处理确保了优异的性能和实验的可重复性。