显微镜校准器 045-200200

微米级测量

校准目标Micro V1
光学校准和分辨率测试是了解和优化任何光学系统的关键指标。
校准目标Micro V1的独特之处在于它将非常有用的分辨率数据与超高清的微观特征相结合共同实现了对任何光学设置的有效和精确优化。
-超高清晰度的微特征兼容最苛刻的光学校准要求
-四个独特的象限将分辨率目标与测量标尺相结合
-装在一个专用的带衬垫的存储箱中供应
-符合 DIN EN ISO/IEC 17025 認證標準的 DAkkS 認證。該 DAkkS 認證的認證編號為 045-200200-DKD10


校准目标Micro V1包含不同形状和尺寸的定义结构便于系统校准和失真检测。
1.10 lp/mm到1000 lp/mm
2.Ø20 μm点阵40x40点,100 μm网格
3.对比度和西门子结构
4.Ø10 μm点阵40x40点50 μm网格
5.刻度可降至10 μm

玻璃上的镀铬结构
最小的结构尺寸为0.5微米
最大的结构尺寸为600微米
结构形状 各种形状
在X和Y方向上的比例
尺寸76x 26x 4.5毫米
重量17克