X射线衍射仪 JF-5

单晶

JF-5 大频 X 射线定位仪 功能 本装置采用 X 射线衍射原理，是由光学、机械和电子组成的精密仪器。 它可以快速测量各种晶体平面的方向，并与切片、抛光等加工设备匹配。 特点 1. 采用先进的高频和高压功率，增强了 X 射线强度，专为峰值阀非常弱的晶体而设计。 比如钻石 2. 样品夹采用自动旋转术语，方便晶体四点测量，加工过程中易于观察到旋转角度，避免人工加工造成的误差。 3. 取消手轮的工艺，采用完全封闭式，只需轻触屏幕或脚下快门，实现晶圆校准和晶体测量。 4. 采用 PLC 控制技术，自动高，维护低，稳定性好 5. 具有数据打印功能，USB 连接，可导出 EXCEL 和计算机负载。 6. 模块化电路设计，易于维护、保养、维修。 7. 根据测量样品，定制各种机器和夹具，确保测量精度和易用性。 8. 可自动测量晶圆或晶锭，适用于每个工艺角度检查，提高合格率。