ICP-AES光谱仪 ICP-AES700

光发射CMOS用于制药业

产品概述
ICP-AES700 全谱直读感应耦合等离子体发射光谱仪，可对不同基体样品中的主要元素、微量元素和超微量元素进行定性、半定量及精确定量分析。多元素检测的检出限可达十亿分之一（ppb）级，适用于工业、环境、食品与材料等领域的多元素常规检测。

产品特性

• 分析精确：高光学分辨率；防溢出背照式百万像素 CCD/CMOS 检测器，紫外区高响应，无紫外荧光膜，寿命长；支持多种背景校正技术。
• 稳定可靠：光学系统固定位移件；稳定的氩气质量流量一体化控制系统；可视安全联锁与运行监控。
• 操作便捷：可拆卸同心石英炬管，内置自动炬管校正与光源优化功能。
• 运行经济：紧凑高效的光室设计以降低氩气消耗；提供技术指导及现场服务选项。
• 软件完善：层级化软件界面，操作直观；丰富的方法库与版本管理，便于方法继承与维护。

应用领域
材料分析
合金成分分析；高纯有色金属及其合金的痕量元素分析；金属材料、电气材料、电源材料与贵金属中的微量元素分析；电子通信材料及其包装、餐具、容器等中有害元素检测。

食品分析
食品卫生中重金属含量检测及常规食品检测；水中（污水、饮用水、矿泉水等）有害重金属及阴离子分析。

药品与化学品分析
药品、化妆品、洗涤剂及其包装材料中有害元素（砷、汞、铅等）分析；保健品和生物制品中有害成分与营养成分分析；氯碱化工行业高纯苛性钠原料及医药中间体的高纯度分析。

土壤与矿石分析
适用于地质与环境监测机构：土壤与肥料中重金属与微量元素分析（砷、汞、铅、铬、锰、铁等）；矿物的定性和定量分析；农业研究或高校的环境样品分析。

检测范围
ICP 发射光谱仪可对样品中的金属元素及部分非金属元素从痕量到大量级别进行定性、半定量与定量分析。

产品参数
进样装置技术指标：
输出工作线圈：镀银高频线圈，内径 25 mm，3 匝。
三同心石英炬管：外径 20 mm；根据行业不同提供多种型号。
高效进口同心雾化器：外径 6 mm，可选多种型号。
蠕动泵：四通道十二滚轮，速度可按需调节。
总氩气消耗：<14 L/min。

分光器技术指标：
光栅：凹面光栅，全谱真空光学系统（Pxing-longge 结构）。
波长范围：165 nm – 900 nm。
分辨率：< 0.007 nm（200 nm 处）。
检测灵敏度示例：2.0 mg/L（在 10000 mg/L Ca 溶液中于 As 188.980 nm 测得）。
光室温度：常温 34 ± 0.1 ℃。

仪器技术指标：
测量模式：轴向/径向观测（双观测方向）。
重现性（短期稳定性）：相对标准偏差 RSD < 0.5%。
稳定性：RSD < 1% @ 2 小时。
检测速度：单次 CMOS 读出时间 2 ms；多数元素的检出限可在约 20 s 内实现（通常 1 ppb–10 ppb）。
分析能力：可对 70 种以上元素进行定量分析。

检测装置技术指标：
检测器类型：原装日本 CMOS 检测器。
量子效率：无涂层，紫外（200 nm）量子效率 >35%。

射频源参数：
输入电源：AC 220 V。
输入电流：20 A。
输出功率：标称输出能力 >70%。
输出功率稳定性：< 0.05%。
电源频率：27.12 MHz。
频率稳定性：< 0.05%。

元素检出限
多种元素的检出限可达 ppb 级；大多数元素的检出限位于 1 ppb–10 ppb 范围内。

技术规格

• 型号：ICP-AES700。
• 波长范围：165–900 nm。
• 分辨率：<0.007 nm（200 nm 处）。
• 检测器：日本原装 UV 高响应 CMOS 检测器，200 nm 处 UV QE >35%。
• 测量模式：轴向与径向观测。
• 重现性：RSD <0.5%；稳定性 RSD <1% @ 2 h。
• 检测速度：CMOS 读出 2 ms；全元素检测约 20 s。
• 分析能力：可定量分析 >70 种元素。
• 氩气消耗：<14 L/min。
• 射频输入：AC 220 V, 20 A；频率 27.12 MHz；输出稳定性 <0.05%。