荧光光谱仪 X-RAY 5000

EDXRF工艺流程

FISCHERSCOPE® X-射线5000是为稀薄的涂层的恒定的轴向分析和测量设计的X-射线荧光(XRF)测量系统。 它制造与一个正比计数器管子和硅漂泊传感器。 单位迅速和容易地被校准在生产过程期间，并且可能得到测量甚而在由500°C.决定热的材料。 特点 • 连续的测量的耳轮缘测量的头在生产线 • 正比计数管、塞贝克冷却的硅PIN二极管或者硅漂泊探测器当X-射线探测器 • 在一位制件大师的快和容易的定标直接地在生产过程中 • 用于空气或真空 • 允许测量甚而在非常热的基体材料由500° C (930° F)决定 • 设计集中于最大强壮和操作性能 典型的应用领域 • Photovoltaics (香烟，同边， CdTe) • 对在铁带、金属箔和塑料胶膜的稀薄的涂层的分析 • 连续的生产 • 程序控制飞溅和电镀的生产线 • 大区域测量