荧光光谱仪 XDL® series

EDXRF实验室自动化

X 射线荧光是一种测量仪器，用于对功能性涂层、腐蚀、安全涂料和散装部件进行手动或自动涂层厚度。 这是一个耐用的仪器，非常适合从 1mm 开始的结构尺寸和涂层厚度的测量，即使在巨大的测量距离（DCM，冲程 0-80 mm）时也是如此。 X 射线荧光具有固定的光圈和过滤器，以及一个巨大的宽敞的室与切口进行测量。 它还具有标准的 X 射线管和比例计数管。 它还配备可编程平台，用于自动测量。 X 射线荧光主要用于电镀、黄金、珠宝和钟表行业的浴分析。