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- 环境室
- AI SI LI (China) Test Equipment Co., Ltd
环境室 PCT - 65湿度高压温度
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产品规格型号
- 类型
- 气候
- 受控参数
- 温度, 湿度, 高压
- 测试类型
- 环境, 老化, 应力
- 应用产品
- 用于电子设备, 用于电子卡片, 用于半导体
- 应用领域
- 质量控制
- 配置
- 带滑轮
- 箱体材料
- 不锈钢
- 其他特性
- 加速式
- 容量
17 l, 43 l, 87 l, 155 l, 250 l
(4.49 gal, 11.36 gal, 22.98 gal, 40.95 gal, 66.04 gal)- 温度
最少: 100 °C
(212 °F)最多: 143 °C
(289 °F)- 内部深度
250 mm, 450 mm, 550 mm, 650 mm, 750 mm
(9.84 in, 17.72 in, 21.65 in, 25.59 in, 29.53 in)- 外部宽度
750 mm, 800 mm, 900 mm, 1,050 mm, 1,200 mm
(29.5 in, 31.5 in, 35.4 in, 41.3 in, 47.2 in)- 外部高度
1,200 mm, 1,250 mm, 1,380 mm, 1,550 mm, 1,700 mm
(47.24 in, 49.21 in, 54.33 in, 61.02 in, 66.93 in)- 外部深度
800 mm, 900 mm, 1,100 mm, 1,250 mm
(31.5 in, 35.43 in, 43.31 in, 49.21 in)
产品介绍
JESD22-A101 PCT 压力加速环境老化试验箱主要用于测试产品在高温、高湿、高压气候条件下的储存、运输和使用性能。主要用于电工、电子产品、元器件、零部件、金属材料和材料等。在模拟高温、高温、高湿、高压的气候条件下，对产品的物理性能和其他相关性能进行测试。试验结束后，可通过验证判断产品的性能是否满足设计、改进、验证和交付产品的要求。检验用途。密封性能测试，相关产品的加速寿命测试。
JESD22-A110 - 高加速温度和湿度应力测试的目的是评估非密封封装固态设备在潮湿环境中的可靠性。
我们的 PCT 压力加速环境老化试验箱完全符合 JESD22-A101、JESD22-A102-E 和 JESD22-A102-C 标准。
压力老化试验设备广泛应用于多层电路板、集成电路密封封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、钕铁硼、稀土和磁铁等产品的密封性能测试，可对上述产品的耐压性和气密性进行测试。
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PCT HAST Pressure Aging Test Chamber
* 显示价格为参考价，此价格不含税、不含运费、不含关税，也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。