- 计量设备、实验室仪器
- 计量和测试仪器
- HAST试验箱
- AI SI LI (China) Test Equipment Co., Ltd
HAST试验箱 HAST series老化用于电子卡片用于电子设备
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
产品规格型号
- 测试类型
- HAST, 老化
- 应用产品
- 用于电子卡片, 用于电子设备, 用于汽车
- 配置
- 带滑轮
- 选项和配件
- 双区
- 其他特性
- 加速式
- 温度
最少: 100 °C
(212 °F)最多: 135 °C
(275 °F)
产品介绍
Doube试验区 HAST加速老化试验室
应用。
Doube测试区HAST加速老化试验箱广泛适用于多层电路板、IC密封包装、LCD屏幕、LED、半导体、磁性材料、钕铁硼、稀土、磁铁等产品的密封性能测试，可以测试出上述产品的抗压性和气密性。
---
PDF产品目录
该产品还没有PDF产品手册
查看AI SI LI (China) Test Equipment Co., Ltd的所有产品目录AI SI LI (China) Test Equipment Co., Ltd 的其他产品
PCT HAST Pressure Aging Test Chamber
* 显示价格为参考价，此价格不含税、不含运费、不含关税，也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。