HAST试验箱 HAST series
老化用于电子卡片用于电子设备

HAST试验箱
HAST试验箱
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产品规格型号

测试类型
HAST, 老化
应用产品
用于电子卡片, 用于电子设备, 用于汽车
配置
带滑轮
选项和配件
双区
其他特性
加速式
温度

最少: 100 °C
(212 °F)

最多: 135 °C
(275 °F)

产品介绍

Doube试验区 HAST加速老化试验室 应用。 Doube测试区HAST加速老化试验箱广泛适用于多层电路板、IC密封包装、LCD屏幕、LED、半导体、磁性材料、钕铁硼、稀土、磁铁等产品的密封性能测试,可以测试出上述产品的抗压性和气密性。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。