Thermo Scientific/赛默飞世尔科技厚度测量系统

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厚度测量机
厚度测量机
VL-50B Litematic

... 这是一款高精度电动测量机,操作安全简便。 LITEMATIC VL-50 具有以下优点: - 测量力为 0.01 N(1 gf),分辨率为 0.01 μm。 - 测量力恒定且较小,因此特别适合测量软质材料,如橡胶、塑料、薄膜厚度或敏感形状部件。 - 马达驱动的柱塞可提供一系列接近和缩回速度,操作安全简便。 ...

视觉测量系统
视觉测量系统
QV series

... 具有广泛的测量精度、范围和功能。 带触发式测头的CNC视觉测量系统 QV TP Pro系列 非接触式测量和接触式测量可由一台设备单独完成。可对工件进行三维测量,如冲压成型产品、塑料成型产品和切割产品。 塑模产品和切割产品,到目前为止,仅靠图像处理是无法测量的。 带非接触式位移传感器的数控视觉测量系统 QVH4 ...

形状测量机
形状测量机
RONDCOM NEX Series

... 系列的形状测试仪可以在R、T和Z轴上精确测量圆度和粗糙度,并具有一流的旋转精度。 RONDCOM NEX和RONDCOM NEX Rs是通用的形状测试仪,用于分析圆度、粗糙度、圆柱体形状、垂直度、平行度、直线度、平面度、同轴度、同心度和厚度误差。由于旋转误差仅为20纳米,这两台形状检测仪是各种高度为300毫米或500毫米、重量不超过60公斤的精密零件的理想选择。 完美定位 获得专利的CNC偏置测针座可在CNC指导下旋转和转动测针,允许深度插入,也可在R轴以下测量。 更精确的测量 RONDCOM ...

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ZEISS Industrial Metrology/蔡司
电缆测量机
电缆测量机
VCPLab

... 电缆测量设备 VC...b 是一种基于摄像头的系统,用于测量电缆绝缘层和护套的几何形状。集成的高分辨率传感器可对外径小于 1 毫米(0.04 英寸)的极薄样品和外径达 34 毫米(1.34 英寸)的电缆护套进行非常精确的测量。 设备详情: 集成高分辨率传感器,测量极为精确 手动对焦和曝光,可在实验室进行 ...

直径测量系统
直径测量系统
GaugePro series

离线测量仪,用于控制 管材和软管样品的 直径、壁厚和内径 特点 用于检查样品 测量外径、内径和壁厚 创建报告和批量统计 可以集成数据库 根据选择的工艺配方和样件翻转情况,可以进行标准的4点测量,最多可达8点测量 优势 • 样品准备不会造成太大影响 • 简单的桌面解决方案 • 不到2个步骤即可完成所有测量 • ...

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ZUMBACH Electronic AG
厚度测量系统
厚度测量系统
ODAC QC series

离线测量仪,用于测量 线缆和管材样品的 直径、椭圆度和壁厚 特点 自动离线质量控制系统 具有自动样品弹出功能的电动样品翻转装置 可用于质量控制实验室 (QC) 或生产中 立即测定规格是否在规定的公差范围内 快速得出生产优化反馈 测定每个样品的最小值、最大值、平均值和标准偏差 优势 • 精确、简便地测量成品件或截面样品 • ...

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ZUMBACH Electronic AG
厚度测量系统
厚度测量系统
RAYEX® D XT

X射线测量仪,用于测量 低压、中压和高压电缆的 壁厚、偏心度、直径和椭圆度 特点 用于测量壁厚、偏心度、直径和椭圆度的测量系统 可以检测的壁厚薄至0.3 mm 可测量15 mm … 140 mm的产品 同时测量3层 独特的X射线源设计理念,集成高压源和微束光路 独特的自适应集成解决方案,适合热轧和冷轧应用 可通过集成的各种接口通信,例如Ethernet ...

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ZUMBACH Electronic AG
厚度测量系统
厚度测量系统
0 - 2mm(6mm,12mm) | 0.1 µm | CHY-CB

... 应用 — 薄膜和箔片测试、纸张和纸板测试、纺织和非织布测试、金属板测试、食品包装 测试性能 — 厚度 测试方法 — 表型接触方法 标准 — ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM 产品 特点 — 自动提升压脚 — 实时显示测试结果 — 最大值、最小值和平均值 — 自动统计和打印功能 — 带液晶的微型计算机控制 — RS 232 规格 -测试范围 0 〜 2 毫米(标准),0 ...

厚度测量系统
厚度测量系统
C640

... 最大限度地减少人为操作造成的误差。 - 可根据需要设定接触时间和测试速度。可定制多种接触面积和压力,满足各种试验条件的要求。 - 用户可选择手动和自动测试模式。 - 多点校准可以提高整个测试范围的线性度,保证测量结果的准确性。 - 标准量块可用于快速校准 高效率 该仪器具有高效率、自动化的结构设计,最大限度地减少了测量过程中的人为操作,智能化的控制和数据处理功能,使测试操作和数据处理简单可靠。智能化的控制和数据处理功能,使测试操作和数据处理简单可靠。 ...

涂层厚度测量系统
涂层厚度测量系统
NIRONE COATING

... -我们近红外范围内的新传感器 连续在线测量,实时且无接触 EDIT PROCESS CONTROL为各行业设计、制造和销售测量和试验设备。 我们新的NIROne传感器得益于最新的技术,以确保可靠的测量成分,如水分、蛋白质、脂肪... 使用新一代的PbS传感器和调节(Peltier)的改进使得测量的可重复性更好。 通过自动校准对灯管的磨损进行自动补偿,使测量结果长期稳定,不需要定期检查基准。 红外线温度测量(无接触)可作为一个选项。 其他一些新的功能,如可见测量点的Ø、自动检测产品的存在或集成在设备上的困难环境冷却板 ...

厚度测量系统
厚度测量系统
WARP 8

WARP 8是一款雷达波在线管道测量系统,通过8个测量点或4个轴进行壁厚和直径测量。它提供手动或自动工艺优化和控制所需的所有重要测量数据。除了投资回报时间短之外,该系统还提供了很高的测量精度以及过程自动化和文档功能。静态传感器在挤出方向实现高分辨率的测量值。因此,工艺波动被精确地记录并变得肉眼可见,这样就可以检测和消除分切过程中挤出量的短期波动或背应力效应带来的影响。WARP ...

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iNOEX GmbH
厚度测量系统
厚度测量系统
WARP 100

WARP 100是一款雷达波在线壁厚直径测量系统测量点最多可达19轴38个点。每秒超过1100次的测量保证了无缝测量。这一点对于要满足高质量要求的管道(如压力管或燃气管道)尤为重要。这种100%覆盖测量允许的最大线速度高达11.8米/分钟。WARP 100有三种尺寸可供选择,可用于测量直径范围60到630毫米的管道。静态传感器分布在管道周围,并行连续测量管道。专门开发的光学系统可将雷达波对准管道的中心。传感器以测量点重叠的方式布置,从而确保挤出方向上的产品呈紧密网状覆盖。壁厚、直径、椭圆度、偏心度和生产过程 ...

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iNOEX GmbH
厚度测量系统
厚度测量系统
WARP CP

... 是一款基于雷达壁厚传感器的在线测量系统,用于检测波纹管的各种结构数据,包括内外径,波峰波谷和承口插口的壁厚值。该系统适用于检测直径300毫米及以上的大型波纹管。 分布在波纹管周围的8个传感器对其进行连续扫描测量。由于波纹管具有不同的结构,因此还可以根据实际需要对管材外壁及内衬进行测量。该系统算法将会自动完成这项工作,并为用户提供不同的图形数据和每个结构的相应测量数据。 其他优势/特点: ...

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iNOEX GmbH
几何特征测量系统
几何特征测量系统
FISCHERSCOPE® XAN® 500

... 射線螢光分析儀,即使材料組合困難複雜的情況下,也可以進行精確的鍍層厚度測量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標準 • 重量1.9 kg • 一次電池充電可持續運作6個小時 • 測量點:3毫米Ø • 高解析度矽漂移檢測器 • 用於戶外的IP54等級 • 用作桌上型設備的可選測量箱; • 使用完整版WinFTM®軟體進行資料統計 FISCHERSCOPE®X射線XAN®500是目前最通用的X射線螢光系統。作為一款掌上型XRF分析儀,它非常適合在生產線上檢查大型零件 ...

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HELMUT FISCHER SRL
涂层厚度测量系统
涂层厚度测量系统
FISCHERSCOPE® X-RAY

... 测量大型工件。 大型专用外壳,用于集成费舍尔 X 射线测量技术,测量大型工件的涂层厚度和材料分析。 用于超大型样品的 X 射线荧光分析。 FISCHERSCOPE® X-RAY 模块化箱体将大型箱体与 Fischer 成熟的 X 射线荧光测量技术相结合。您可以选择将测量技术安装在适合您需求的箱体内。可集成 ...

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HELMUT FISCHER SRL
涂层厚度测量系统
涂层厚度测量系统
MP0® series

... 可在惡劣條件下進行可靠的塗層厚度測量 • FP這款帶探頭連接電纜線,便於測量難以觸及的地方 • 操作簡單,有直觀的導航功能表和2個顯示螢幕 • 3點支撐和導電率補償可得到重複性好的測量結果,即使是奇怪形狀的樣品 • 連續測量模式用於連續的表面取樣 • 統計功能,如平均值和標準差 • 可存儲多達1000個讀數 MP0R這款的附加功能 • ...

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HELMUT FISCHER SRL
厚度测量系统
厚度测量系统
LTM-MAXI

... LTM-MAXI 测厚系统专门针对带材加工生产线中的高速卷材而开发,该系统用于在加工前后检查材料厚度,以提供工艺控制默认值。 由于采样频率高,LTM-MAXI 系统还用于 “定制轧制坯料” 材料的柔性轧辊成型、轧辊成型、冲压和管材制造。 LTM-MAXI 高性能测量系统支持使用两个三角测量激光传感器进行非接触式带厚度测量。 ...

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ROLAND ELECTRONIC
厚度测量系统
厚度测量系统
Opto-DesQ Vmax

... 全自动光学离线测量平台 非接触式测量和控制长度、宽度、角度、厚度、半径、椭圆、凹槽、孔径、钻孔、铣削和开槽坐标以及水平孔。 Opto-DesQ Vmax 可用于工业生产中所有几何尺寸的非接触式测量。光学质量控制是制造过程中不可或缺的一部分,可确保您的生产过程安全。该测量台配有摄像系统和专用图像识别软件,可提供高精度的测量结果。它能快速检测部件是否在规定的公差范围内。 功能 Opto-DesQ ...

厚度测量系统
厚度测量系统
PC-DesQ

... 操作员可以自动获得关于必须在 X, Y 和 Z 调整的钻削主轴的反馈 功能 PC-Desq 尺寸检查长度, 宽度, 厚度, 半径, 椭圆, 切口, 钻孔直径, 钻孔, 铣削和槽坐标, 星形钻孔 方差分析 与 6 个测量适配器(6 个测量适配器(6 个测量适配器,用于测量钻孔坐标和深度的测量适配器,用于钉钻头的特殊端面适配器) 用于固定部件的真空夹紧装置 可以进行测量 ...

厚度测量系统
厚度测量系统
Steel-DesQ

... 使用 Steel-Desq,钢板可以简单高效地测量,因此对尺寸变化的抱怨已成为过去。 快速检查意味着将设置时间最小化,并实现高度的工艺可靠性。 钢材可实现高度精确的测量结果。 应用范围 Steel-Desq 直接从机器扫描大量斑点样品; 在测试实验室用于定期测试零件和初始样品 扫描原型和串行零件 最大限度地减少机器和系统的设置时间 功能 Steel- DesQ 尺寸检查外部尺寸和平均度 由操作员手动进行触觉扫描, 配备了 ...

厚度测量系统
厚度测量系统
SpectraFilm™

薄膜量测系统 SpectraFilm™ F1薄膜测量系统可以为各种薄膜层提供高精度薄膜测量,从而在7nm一下的逻辑和领先内存设计节点上协助实现严格的工艺允许误差。高亮度光源驱动光谱椭偏仪技术,信号足以精确测量带隙并且可以比电子测试提早数周了解电性能。新的FoG™(光栅上的薄膜)算法可以在类似器件的光栅结构上实现薄膜测量,从而进一步提高测量值与器件的相关性。随着产量的提高,SpectraFilm ...

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KLA - TENCOR
视频测量系统
视频测量系统
iNEXIV VMA-6555

iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程,为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型,带有宽视场光学器件和接触式探头接口,是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量(选配) 能够测量不可见特征的尺寸和角度,例如零件侧面的孔。

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Nikon Metrology
视频测量机
视频测量机
VMQ

- TZTEK10,1三倍率镜头 - 最高测量糈度0,7gm,最大视野82×55m - 采用双远心镜头,全视野无畸变 - 可加装光谱测头、同轴光、辅助环形光源、手柄等 - 自动图像配准功能,一键定位,无需专用定位夹具 - 精准闪测,效率提升可达20倍 - 可对工件多任务并行检测,极大提高测量效率 - 配置了丰富的外部接囗,可以定制集成到生产线,实现快速 - 在线检测

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TZTEK Technology Co.,ltd
平面度测量机
平面度测量机
FVL

FVL手机外壳专用测量仪是一款业内创新的专用设备,主要应用于手机外壳等3C行业精密结构件的测量。此款测量仪继承了富瑞德影像仪高精度、高稳定性等基础优势,结合3C行业部件测量特点进行量身定制,实用性更高,具备高性价比。 技术参数 FVL手机外壳专用测量仪是一款创新专用影像测量仪,主要应用于手机外壳等3C行业精密结构件的测量。 技术特点 ◆测量方式:非接触式光学检测,自动上下料 ◆主要测量特征:平面度、底面厚度、面板高度、内外长宽、孔大小及位置度、高度段差、R角 ◆ ...

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Wuxi Frederick Measurement and Control Instrument Co., Ltd.
厚度测量系统
厚度测量系统
M-thick

... 墙体粘稠度 m-Thick光学传感器测量任何透明或半透明材料的总厚度,包括涂层。玻璃行业的主要应用是。 TFT e LCD面板 电子产品的薄玻璃 医药管和照明管 钟表业的玻璃板 M-thick干涉式光学传感器可以在生产线和QA/QC实验室中测量玻璃板、管子和物体的总厚度测量是无接触的,提供微米级的精度 优势 反射法不需要 反射头 - ...

坐标测量机
坐标测量机
INSIGHT 800

... 节省校准时间,避免人为错误 ■ 任选雷尼绍接触探头,用于高度、深度等 3D 测量 ■ 可选的 THK 线性导轨和滚珠丝杆 ■ 可选的 KEYENTE S 激光位移传感器,用于粗糙度、平坦度表面测量 ■ 可选的光谱共聚焦传感器 • DIN 000 级花岗岩台主底座保证强度、精度和稳定性 • X、Y 和 Z 轴上的 0.0005mm 分辨率光栅刻度确保了精度和长寿命 • 美国 NAVITAR 0.7X-4.5X ...

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Leader Precision Instrument Co. Ltd
直径测量机
直径测量机
LMU-175

... 几乎适用于所有内径(ID)、外径(OD)和同侧尺寸(SD*)测量应用。普惠公司为需要精确测量长度、外径、内径、节距直径、导程、大/小直径、锥度、线性位移和厚度的量具校准实验室开发了这款基于激光的通用长度测量机 (ULM)。 其激光干涉仪、零阿贝偏移设计和带中心位置、高度、俯仰和偏航控制的大型测量台(承重 ...

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Pratt & Whitney
表面重量测量机
表面重量测量机
MARVELOC CURTAIN O-frame

... M-Ray 测量技术。作为工业生产线的一部分,这些机器可全天候进行测量。每个 CURTAIN O 型架和 C 型架都包含一个或多个基于 M-Ray 的测量头。这些传感器头可测量各种平面半成品的基重、厚度或异常。由于 M-Ray 技术的特性,测量间距可高达 30 ...

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Hammer-IMS
视觉测量机
视觉测量机
AutoScan series

... 级亮度调节; ● 配置进口非接触激光传感器,实现厚度,平面度等测量; ● 标配自主产权的iMeasuring5.0全自动影像测量软件,功能强大,简单易用; ● 可选配接触式探针,同轴光等配置,也可根据要求进行客户定制化设计。 应用行业: 应用非接触激光传感器,实现3D测量。能够满足一些需要非接触测量需求,可以实现厚度,平面度测量和扫描测量

厚度测量系统
厚度测量系统
iTiM

... 还专门面向钢铁和铝业服务中心以及汽车行业提供成熟可靠的质量保证解决方案(见下图)。 基于激光技术的厚度测量系统EMG iTiM Laser适用于多种不同的应用场景。与所有其他解决方案一样,我们在开发该系统时也重点关注非接触式厚度测量以及为实现工艺流程数字化而进行的必要生产数据采集。测量时,两个激光距离传感器被安装在板带相对的两侧。其中一个传感器安装在被测材料上方,另一个则安装在被测材料的下方。然后通过两个测量头之间的距离以及单次测量距离与被测材料之间的距离差来计算板带的厚度。例如,测量系统上还专门集成了一个校准样本,用于补偿温度对传感器几何形状的影响 ...

厚度测量系统
厚度测量系统
MT-100 + Zoom70

... MT-100-Z70。小尺寸的测量台与高分辨率的变焦光学装置相结合 测量工作站MT-100-Z70将高分辨率光学系统和视频变焦显微镜Z70的高效摄像技术与模块化测量系统MT-100相结合。该设备除了与生产有关的材料和产品测试外,还非常适合在X、Y和Z方向对层和结构进行测量。 应用。 ...

厚度测量系统
厚度测量系统
MicroProf® MHU

... FRT MicroProf® MHU测量工具带有材料处理单元,是专门为半导体、MEMS、蓝宝石和LED行业设计的。典型的应用是在各种光刻工艺步骤中对裸晶和涂层以及结构化晶圆的测量。由于有一个带有两个真空末端效应器的机械臂,该工具具有非常高的吞吐率,每小时可达220块晶圆。它能够处理2至8英寸的晶圆尺寸。最多可以处理4个开放盒,此外,还可以选择集成一个预对准器和一个OCR阅读器。 双面样品测量的选项允许同时测量顶部和底部表面,并确定样品厚度、总厚度变化(TTV)和各种表面参数,如两面的粗糙度、波浪度和平整度 ...

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FORMFACTOR
带厚测量机
带厚测量机
VTLG series

... 通过新的VTLG系列激光系统,沃尔玛为带材厚度测量提供了新的动力。它们结合了最高的精度和面向轧机的设计。由于其独特的测量方法,它们适合在冷轧机上使用。它们的测量精度为±1微米,扫描频率高达80千赫,为控制带材厚度提供了必要的精度和速度。 VTLG系统是唯一可以在轧制过程中测量带材厚度的激光测量仪,从而为我们的客户在生产和质量保证方面开辟了全新的可能性。 与我们的接触式测厚仪一样,它们可以测量任何合金的厚度--这是在轧机上使用的理想先决条件,也可以在退火线、精整段、带钢铣边机或钢铁服务中心上使用 ...

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VOLLMER
涂层厚度测量系统
涂层厚度测量系统

... 钙化仪 : 用于金属的精确涂层测量 我们生产广泛的量热仪,从基本的火山口成形机到全自动涂层测量系统。 我们提供了一个触摸屏控制面板来控制球形马达和聚焦设置,在我们的图像分析器的帮助下,我们可以自动测量样品的涂层。 ...

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