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重量: 17 kg
长度: 490 mm
宽度: 251 mm
从研究到常规的所有应用都得到解决。 CFI60-POL是光学性能优良的偏光专用物镜。偏光图像即可通过目镜观察，也可通过尼康数码相机拍照。LV100N POL具有丰富的偏光专用附件，可应对多种偏光研究需求；Ci-POL是紧凑的透射偏光显微镜。 尼康ECLIPSE LV100N POL和Ci-POL 可观察矿石切片，检查具有偏光特性物质的分布与组成。 尼康CFI60-POL系列物镜 具有高数值孔径、长工作距离特点的偏光物镜。 透射和反射照明 LV-UEPI-N为反射照明器，用于为反射偏光提供照明 ...
Nikon Metrology
倍率: 50 unit
重量: 45 kg
... 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 L200N与NWL200联合使用 在半导体行业中得到广泛认可和信任，目前有许多装置在使用。 尼康CFI60-2光学系统 尼康的创新设计光学系统成像清晰，支持多种显微镜镜检。 反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉； 多种镜检方式 透射照明下可选择的镜检方式有 ...
Nikon Metrology
重量: 45 kg
... 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 L200N与NWL200联合使用 在半导体行业中得到广泛认可和信任，目前有许多装置在使用。 尼康CFI60-2光学系统 尼康的创新设计光学系统成像清晰，支持多种显微镜镜检。 反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉； 多种镜检方式 透射照明下可选择的镜检方式有 ...
Nikon Metrology
重量: 8.7 kg
这一系列半导体显微镜采用纯反射照明，支持的镜检方式有：明场、暗场、微分干涉、偏光、荧光、双光束干涉，可搭载数码相机，常用于半导体、集成电路及其它各种材料的检查。 模块化设计、有电动型与手动型 采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机拍照；模块化设计，方便应对各种功能扩展。 尼康ECLIPSE LV150NA和LV150N 主要用于半导体、工业材料和零部件检查，以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、 ...
Nikon Metrology
重量: 8.6 kg
这一系列半导体显微镜采用纯反射照明，支持的镜检方式有：明场、暗场、微分干涉、偏光、荧光、双光束干涉，可搭载数码相机，常用于半导体、集成电路及其它各种材料的检查。 模块化设计、有电动型与手动型 采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机拍照；模块化设计，方便应对各种功能扩展。 尼康ECLIPSE LV150NA和LV150N 主要用于半导体、工业材料和零部件检查，以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、 ...
Nikon Metrology
重量: 8.6 kg
... LV100NDA和LV100ND 同时带有反射和透射照明的显微镜，用于工业材料和零部件的检查，以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 多种镜检方式 反射照明下可选择的镜检方式有 ...
Nikon Metrology
重量: 9.5 kg
长度: 362 mm
宽度: 251 mm
... LV100NDA和LV100ND 同时带有反射和透射照明的显微镜，用于工业材料和零部件的检查，以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 多种镜检方式 反射照明下可选择的镜检方式有 ...
Nikon Metrology
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