光学显微镜 Eclipse L200N

检查用于电子工业直

这一系列的显微镜是检查硅片、显示屏等大型样品的理想选择。 用于检查大型样品的高级显微镜 采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机。 尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D) 用于硅片（L200N系列为200mm，L300N系列为300mm）、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。 尼康CFI60-2光学系列 尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 L200N与NWL200联合使用 在半导体行业中得到广泛认可和信任，目前有许多装置在使用。 尼康CFI60-2光学系统 尼康的创新设计光学系统成像清晰，支持多种显微镜镜检。 反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉； 多种镜检方式 透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。