概述NWL200系列提供6"(150 mm)和8"(200 mm)晶圆的自动化传输与处理,支持可选的100 µm超薄晶圆处理。该系列可与光学显微镜及图像测量系统集成,面向生产检验线的高通量与安全搬运需求设计。
兼容性与总体能力- 支持晶圆直径:6"(150 mm)和8"(200 mm)。
- 可与Nikon Eclipse L200N、LV150N显微镜及NEXIV VMZ‑S集成。
- 标准处理300 µm和200 µm厚度;可选100 µm超薄夹持单元。
核心功能与搬运- 多臂装卸系统,实现快速且精确的晶圆传输。
- 带非接触定心的快速卡匣升降装置,确保精确对位。
- 支持宏观检查:前侧图案、后周边和中心区域检测。
- 转速与倾角可编程(自动/手动),以适配不同检测任务。
- 宏臂的真空卡盘在意外断电时保持吸持,以便安全取出晶圆。
洁净与防污染设计在真空夹持与定心区域保持连续气流,以减少颗粒产生。机盖采用不锈钢材质以降低静电积累,满足洁净室要求。
安全与晶圆检测- 传感束线和传感器布局可检测卡匣中变形或翘曲的薄晶圆,并在存在碰撞风险时中止收集。
- 碰撞避免逻辑降低传输过程中晶圆损坏的风险。
可用性与人体工学- 前面板以操作员为中心:一键晶圆选择、大尺寸LCD和结构化菜单用于配方与系统控制。
- 装载位置和卡匣更换位置向左倾斜35°,便于人工操作并提升处理效率。
远程操作与支持- Remote Access Web Server工具通过浏览器向导支持LAN连接,可创建、编辑和备份检测配方。
- 远程配方写入与备份有助于保持检测连续性并优化产线吞吐量。
技术规格- 适用晶圆直径:6"(150 mm)与8"(200 mm)。
- 支持厚度:标准300 µm、200 µm;可选100 µm超薄。
- 兼容设备:Nikon Eclipse L200N、LV150N;NEXIV VMZ‑S。
- 上/下料:多臂传输、快速卡匣升降、非接触定心。
- 检测模式:表面图案、后周边、中心区;转速与倾角可调(自动/手动)。
- 防污染:连续气流;不锈钢机盖降低静电。
- 安全:晶圆检测以避免碰撞;断电时真空卡盘保持吸持以便安全取出。
- 操作界面:一键选择、大屏LCD、配方管理;支持远程Web访问以管理与备份配方。