Malvern Panalytical实验室衍射仪

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X射线衍射仪
X射线衍射仪
Aeris - Compact XRD

Aeris X 射线台式衍射仪将给您留下深刻印象,数据质量和数据采集速度目前只有在大功率系统上才能实现。 这个小巧的仪器结合了简单的测量与一步样品装载装置,以及一个直观简洁的用户界面,通过其内置触摸屏和直观软件,用户可以无障碍地使用这款仪器。您可以享受这个流畅的过程 – 从样品装载到结果输出,只需一个按钮操作。 Aeris 专为低拥有成本而设计,可根据特定市场的需求提供 4 种版本:研究版、水泥版、矿产版和金属版。 所有版本均支持自动化选项,以满足您的处理量要求。 提升投资回报的解决方案 ...

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XRD衍射仪
XRD衍射仪
DDCOM

... 紧凑型封装中的超快自动晶体定向装置 使用我们专有的扫描方法,在数秒内精确确定全晶体定向。DDCOM 能耗低、运行成本低,是科研和工业应用的理想之选。 概述 超快、精确(高达 (1/100)o )的晶体定向尽在指尖。DDCOM 获取可靠结果的速度比传统方法快 100 多倍,而且由于采用了顶部向下测量的几何结构,还能节省更多时间。这款多功能仪器采用风冷 X 射线管和便携式设计,可确保较低的运行成本和最大的便利性,是质量控制、标记和研究应用的理想之选。 特点和优点 超快精度 我们专有的扫描方法只需一次扫描旋转就能收集到晶体定向测定所需的全部数据,在几秒钟(单次旋转)的范围内就能提供精确的结果。 针对特定材料的仪器几何结构可以超快地测量晶格相对于旋转轴的取向,精度随扫描旋转次数的增加而提高。 结构紧凑、用户友好 DDCOM ...

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XRD衍射仪
XRD衍射仪
SDCOM

... 超快、灵活的晶体定向,采用紧凑型封装 SDCOM 能够测量 1 毫米大小的晶体,采用方位角扫描方法,只需测量一圈就能精确确定单晶体的完整晶格取向--只需几秒钟。SDCOM 不仅适用于研究,也适用于生产质量控制,它用途广泛,使用方便,可轻松应用于各种晶片和铸锭工艺步骤,而且无需水冷。 快速、精确的晶体取向测量从未像现在这样方便--SDCOM,您的用户友好型紧凑型 XRD。方位扫描方法可实现超快速测量,在五秒内即可获得结果。 SDCOM 可提供高达 0.01o ...

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XRD衍射仪
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Omega/Theta

... 用于超快晶体定向的全自动垂直三轴 X 射线衍射仪 Omega/Theta XRD 在确定晶体晶格方面具有极高的精度和速度。Omega/Theta XRD 可在短短十秒钟内返回结果,它配备了从条形码阅读器到晶体堆叠框架等多种工艺附件,可容纳重量达 30 千克、长度达 450 毫米的各种样品。它是将测量方向传输到处理工具的可靠合作伙伴。 Omega/Theta XRD 是您在多变的半导体环境中确定晶体取向的可靠合作伙伴。市场领先的精度、极快的测量速度、高端的制造质量与强大的自动化功能相结合,确保您的流程能够应对任何情况 ...

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XRD衍射仪
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Wafer XRD 200

... 精确、设备齐全:我们的晶片端控制解决方案 Wafer XRD 200 是一种超快速、高精度的自动系统,可根据晶体取向和晶片几何参数进行晶片分拣,并提供多种附加选项 Wafer XRD 200 是您前所未有的用于晶片生产和研究的全自动高速 X 射线衍射平台。 Wafer XRD 200 可在几秒钟内提供各种重要参数的关键数据,如晶体取向和电阻率、缺口和平面等几何特征、距离测量等。专为无缝集成到您的工艺线而设计。 功能和优点 采用专有扫描技术,精度超快 这种方法只需要旋转一次晶片就能收集到所有必要的数据 ...

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Wafer XRD 300

... 可集成的晶圆定向解决方案 工厂自动化的强大功能与我们的新一代 X 射线衍射技术相结合。Wafer XRD 300 是用于晶体定向和晶片几何控制的超快速、高精度计量模块。 Wafer XRD 300:您用于 300mm 晶圆生产的高速 X 射线衍射模块,可提供晶体定向和几何特征(如凹槽、平面等)等各种重要参数的关键数据,其设计可与您的工艺线完美结合。 功能和优点 利用我们专有的扫描技术实现超高速精度 所使用的方法只需要一次旋转扫描就能收集到所有必要的数据,从而完全确定晶体的取向,测量精度高 ...

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