Hitachi/日立二次电子显微镜

倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.4, 1.2 nm

... 超高分辨率场发射扫描 电子 显微镜 SU9000 专门为 电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 • 新的 电子枪和 电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.2 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) • 用改良的高真空性能和优异的 电子束稳定性来实现高效率截面观察。 • ...

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.9, 0.6 nm

... 超高分辨肖特基场发射扫描 电子 显微镜SU8700 随着快速数据采集和数据处理技术的发展， 电子 显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM，在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上，增加了包括自动获取数据等高通量的功能。 超高分辨观察和超强分析能力 日立的高亮度肖特基场发射 电子枪可同时支持超高分辨观察和快速微束分析。在不使用样品台减速的情况下，仅用0.1 ...

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.9, 0.8 nm

... 是一台实现了获取大量信息的新型扫描电镜，可以满足客户的多种观察需求。 接下来请欣赏SU7000带来的多彩世界 核心理念 1.采用优异的成像技术 SU7000可以迅速获取从大视野全貌图到表面微细结构等多种检测信号。全新设计的 电子光学系统和检测系统，使得装置可以同时接收 二次 电子和背散射 电子等信号，用户可以在短时间内获得更全面的样品信息。 2.采用多通道成像技术 随着用户对成像需求的不断增长，SU7000特新增了几种探测器，还引进了相应的成像功能。SU7000最多可同时显示和保存6通道信号。实现了获得样品信息的最大化 ...

倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 15, 4, 3 nm

... 集优异性能、操作简便性、多样化功能于一身 日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察。 ①SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察 ■样品台可搭载超大/超重样品 • 通过更换样品提示，可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 • 选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率 • 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度* • ...

倍率: 6 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 4, 15 nm

... 全新开发的用户界面和 电子光学系统让您深切体验其高性能。 FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的 电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补 电子 显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。 • ...

倍率: 10 unit - 250,000 unit

... 可结合其目的进行观察。 可在低真空的条件下进行 二次 电子像（表面形状）观察。 无需预处理，也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面 不仅是观察传统的导电性样品，还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行 二次 电子像与背散射 电子像之间的切换。 高感度低真空 二次 电子检测器 采用高感度低真空 二次 电子检测器(UVD)。通过检测由于 电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光，可以观察带有 二次 电子信息的图像。此外，通过控制该检测器，来检测 电子照射所产生的光，可以获得CL信息（UVD-CL ...

倍率: 20 unit - 8,000,000 unit
空间分辨率: 0.08, 0.1 nm

... kV相差校正TEM/STEM，平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能 通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。 透射 电子 显微镜除了延续了日立公司配备的具有扫描透射 电子 显微镜“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自动校正功能，像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射 电子 显微镜HF系列中所积累的技术。 对于包括高端用户在内的广泛用户，我们提供亚Å级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。 ※附带第二显示器（可选 ...