HELMUT FISCHER紧凑型光谱仪

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X射线荧光光谱仪
X射线荧光光谱仪
FISCHERSCOPE® XDAL®

... 種不同的半導體探測器。 矽PIN二極體是一種中階檢測器,非常適合在相對較大的測量區域內測量多個元素。配備PIN的XDAL通常用於檢查硬質材料塗層。 與矽PIN二極體相比,高品質的矽漂移檢測器(SDD)具備更好的能量解析度。如此配備的XDAL光譜儀可用於解決電子行業中的複雜測量任務:例如,測量薄合金層,或非常相似的元素(如金和鉑)的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用於ENIG和ENEPIG應用的品質控制 對於特別棘手的挑戰,Fischer還提供含有超大探測器表面的SDD。該探測器的優勢在於它能夠可靠地測量奈米級的鍍層 ...

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HELMUT FISCHER SRL
X射线荧光光谱仪
X射线荧光光谱仪
FISCHERSCOPE® XUL®

... XUL®系列正是每個電鍍生產線的基礎設備。這些簡單易用且價格適中的能量色散X射線螢光分析儀非常適合監控鍍液成份,但在品質控制方面也是不可或缺的幫手:堅固耐用,非常適合測量批量生產的零件(如螺母和螺栓)上的電鍍層 。 XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中;或者,對於較小的物品(例如插頭),儀器可以配備手動樣品台。儘管測量設備緊密,但它們為您的樣品提供了足夠的空間-高度可達17釐米。 如果您有多種不同的測量任務,FISCHERSCOPE ...

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X射线荧光光谱仪
X射线荧光光谱仪
FISCHERSCOPE®XULM®

... XUL®系列正是每個電鍍生產線的基礎設備。這些簡單易用且價格適中的能量色散X射線螢光分析儀非常適合監控鍍液成份,但在品質控制方面也是不可或缺的幫手:堅固耐用,非常適合測量批量生產的零件(如螺母和螺栓)上的電鍍層 。 XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中;或者,對於較小的物品(例如插頭),儀器可以配備手動樣品台。儘管測量設備緊密,但它們為您的樣品提供了足夠的空間-高度可達17釐米。 如果您有多種不同的測量任務,FISCHERSCOPE ...

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X射线荧光光谱仪
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GOLDSCOPE SD®

• 非破壞、快速、精確的金測試 • 寬敞的測量室 • 緊湊而堅固的設計,適合長期使用 • 無需樣品備製。只需簡單地將物品放在測量室的測量視窗上 • >攝影機會為您顯示確切的測量位置 • 對於當鋪和黃金買家:配備矽PIN探測器且設計緊湊的GOLDSCOPE SD510; • 對於當鋪,黃金買家和小型實驗室:配備矽PIN檢測器的GOLDSCOPE SD515 • 對於測試實驗室,化驗室和精煉廠:配備矽漂移檢測器(SDD)的GOLDSCOPE ...

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X射线荧光光谱仪
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FISCHERSCOPE® 5000

• 與生產控制系統相連的運作過程中的連續測量 • 靈活的用途:用於真空或空氣中的測量; 適用於高達400°C的樣品溫度 • 可選配水冷 • 特別穩健的設計和結構,可在苛刻的條件下持續精確的測量 • 非常適合於大表面產品的鍍層厚度測量和材料分析 • X射線源,探測器和基本濾片都可由客戶選擇 • 符合DIN ISO 3497和ASTM的系統 B 568標準 應用 • 太陽能行業中CIGS,CIS,CdTe和CdS層的厚度 • 金屬條,金屬箔和塑膠膜上的幾微米厚的薄鍍層 • ...

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荧光光谱仪
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XUL® series

... Fischeroscope® X 射线Xul® 系列采用紧凑型 X 射线荧光光谱仪设计,用于进行厚度测量和材料分析。 用于电镀行业,用于测量具有不同形状的物体(如螺丝、螺栓或螺母)的小部件。 它还具有来自电镀槽的金属含量,可以很容易地进行分析。 XULM 型号由微聚焦 X 射线管供电,专为测量小部件、插头触点和电线而设计。 它非常适合珠宝行业。 最后,其 X 射线源和探测器被专门放置在测量室的下方。 ...

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HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
荧光光谱仪
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X-RAY XDV®-µ

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