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ZETA电位纳米粒度分析仪
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... BeNano 180 Zeta Max 是最先进的纳米颗粒分析仪,结合了光散射和透射技术。它可以精确测量粒度和浓度、 ZETA电位、分子量、折射率和流变特性,所有这些都在一个紧凑型系统内完成。 特点和优势: 粒度范围: 0.3 纳米 - 15 微米 最小样品量:3 μL DLS 后向散射(173°)检测技术 相分析光散射(PALS)技术 可编程温度控制范围为 -15 ℃ 至 120 ℃。 折射率测量 浓度测量 基于沉降的粒度测量 ...
... 为了准确测定 ZETA电位和胶体稳定性,STABINO ZETA是首选。它可以取代经典的 ZETA电位测量,并能进行非常快速的滴定。 如今,颗粒表面电荷和界面电位,如 zeta电位和流电势,被广泛用于表征悬浮液、乳剂和纳米颗粒的稳定性。这些参数已被确立为代表颗粒之间静电排斥的典型措施。 STABINO ZETA具有很高的分辨率和数据点密度,可以进行非常快速、精确和可重复的 zeta电位测量。可以在高达40体积百分比的浓度范围内测量0.3 ...
... SZ-100 系列由堀叶公司制造,是一种用于纳米颗粒的定量、 zeta 电位和分子量测量仪器。 它具有广泛的粒径和浓度,在 90° 和 173° 的粒径测量值。 有多种粒径测量模式可用于处理小粒子和弱散射。 其颗粒直径在 0.3 纳米至 8.0μm 之间,其颗粒大小符合国际标准化组织(ISO)13321/22412)的标准。 在大约 2 分钟时间内,泽塔电位的测量范围为-200 mV 至 + 200 mV。 它有一个专用的一次性电池或浸泡池,采样量约为 100μl,用于一次性电池。 ...