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... 产品概述 FTI‑1000 Wafer HV 是一款面向晶圆级高覆盖测试的 ATE 系统，适用于功率分立器件和宽禁带（wide‑bandgap）技术。Wafer HV 版本配备高压 DC/AC 源，适用于单点探针（single‑site probe）应用，可满足最多 6 kV DC 和 5.5 kV AC 的要求。
推荐理由
- 配置灵活 — 模块化 Tester‑per‑Channel Board 架构，支持独立资源和可扩展扩展
- 电气覆盖全面
... UHV-341是一款便携式Tan Delta（损耗因数）测试仪，用于诊断变压器及电气设备绝缘中由潮湿引起的劣化和局部缺陷，适用于制造、安装、交接及预防性检验。
概述 / 功能
- 测量变压器绝缘及相关部件的损耗因数（tgδ）和电容（Cx）；支持CVT自励试验中C1/C2的同时测量。
- 支持逆接线低压屏蔽测量，在CVT母线接地情况下可在不拆线的情况下测量10 kV逆接线的介质损耗（C11）。
- 内置印加电压测量及附加CN（辅助）测量功能。
- 与标准油杯和专用测试线配合时，测量精度满足油介质损耗测试要求。
- 频率变换技术可抑制现场50
... 电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数，尤其是MOS CAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数，MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V曲线（简称C-V特性），C-V 曲线测试可以方便的确定二氧化硅层厚度dox、衬底掺杂浓度N、氧化层中可动电荷面密度Q1、和固定电荷面密度Qfc等参数。 • 频率范围宽：频率范围10Hz~1MHz连续频率点可调 • 高精度、大动态范围：提供0V~3500V偏压范围，精度0.1% • 内置CV测试：内置自动化CV测试软件，包含C-V（电容- ...